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基于关键面积的冗余集成电路成品率分析 被引量：5
1
作者 赵天绪 段旭朝 +1 位作者 马佩军 郝跃 《Journal of Semiconductors》 EI CAS CSCD 北大核心 2003年第5期544-549,共6页
利用关键面积的思想分析了冗余电路的成品率 ,并给出了其计算模型 .实例模拟表明 ,与传统的成品率分析方法相比 ,该模型预测 IC成品率具有更高的精度 .
关键词 关键面积 冗余集成电路 成品率 故障 缺陷
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