闪存芯片(NOR)编程特性与可靠性的研究

NOR型闪存是两大主要闪存之一,是研发其他融合性产品的基础,所以更好地理解NOR型闪存具有基础作用。而擦除失效和可靠性问题是NOR型闪存存在的主要问题。针对NOR型闪存在低温擦除时的失效问题进行试验分析,以期找到解决擦除失效的根本方法或降低擦除失效率,并保证产品的可靠性不受影响。这对未来的融合性产品也有一定的参考意义。