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军用电子部件失效分析
被引量:
7
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作者
杨万均
肖敏
何德洪
《表面技术》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2003年第6期56-58,74,共4页
文中针对某型雷达8μs方波发生器样品在热带海洋性大气环境和内陆工业大气环境下进行棚下暴露试验中的失效行为和元器件表面处理层的失效原因进行了分析,初步找出了在不同大气环境下引起样品失效的主要环境因素。
关键词
军用电子部件
棚下暴露试验
失效分析
雷达
方波发生器
大气环境
下载PDF
职称材料
题名
军用电子部件失效分析
被引量:
7
1
作者
杨万均
肖敏
何德洪
机构
中国兵器工业第五九研究所国防科技工业自然环境试验研究中心
出处
《表面技术》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2003年第6期56-58,74,共4页
文摘
文中针对某型雷达8μs方波发生器样品在热带海洋性大气环境和内陆工业大气环境下进行棚下暴露试验中的失效行为和元器件表面处理层的失效原因进行了分析,初步找出了在不同大气环境下引起样品失效的主要环境因素。
关键词
军用电子部件
棚下暴露试验
失效分析
雷达
方波发生器
大气环境
Keywords
Electro-parts
Exposure test
Failure analyses
分类号
TG172.3 [金属学及工艺—金属表面处理]
E9 [军事]
下载PDF
职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
军用电子部件失效分析
杨万均
肖敏
何德洪
《表面技术》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2003
7
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职称材料
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