一种基于FPGA的准单输入跳变序列生成器设计

本文针对一种准单输入跳变序列测试生成器的测试缺点,提出了一种改进的设计方案并且利用EDA技术在FPGA芯片上进行了设计实现。

基于FPGA的低功耗测试生成器的设计

文中介绍了一种以LFSR为基础的准单输入跳变序列测试生成器,并且利用EDA技术在FPGA芯片上进行了设计实现。为产生低成本、低功耗的电子系统测试信号提供了一种简单易行的方法。

一种基于扫描结构的混合模式BIST的低功耗设计

针对扫描结构混合模式BIST的特点,文章提出了一种利用双模式LFSR和新型折叠控制器相结合的方法来对基于扫描结构的混合模式BIST电路进行低功耗优化设计,从而达到降低待测电路功耗的目的。