基于准残差的Panel协整检验

当检验方程含有确定性趋势时,基于残差的Panel协整检验通过全样本回归来消除确定性趋势的方法会导致检验统计量出现Nickell偏差,必须使用标准化系数进行修正,但这些标准化系数却依赖于真实DGP的设定参数。本文将Breitung和Das(2005)等使用部分样本回归消除确定性趋势的方法应用到Panel协整检验,提出了基于准残差的Panel协整检验,本文证明了这种新的检验统计量的渐近正态性,模拟的结果也表明其具有非常良好的小样本表现。

基于配准残差分布函数点对定权的ICP算法研究

针对传统ICP配准算法无法抵抗常规粗差点对配准精度的影响问题,研究了基于配准残差分布函数点对定权的改进ICP配准算法,推导了基于配准残差分布函数的点对残差权重值计算公式,在此基础上采用幂法解算单位四元数,最终在速度和精度2个方面完成对原始ICP配准算法的优化。采用C++编程语言将改进的ICP点云配准算法程序化,利用Rigel LMS-Z420i三维激光扫描仪对某雕像进行扫描,通过自编程序对含有常规粗差点的点云数据进行配准实验,将基于点对权重的改进ICP算法与标准ICP算法进行比较,结果表明基于点对权重的改进ICP算法能够有效处理配准数据中存在粗差点的情况,是一种比较精确的抗差配准算法,可对现存配准算法进行有效补充。