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数模混合电路故障诊断系统的算法研究
被引量:
1
1
作者
应合理
《微电子学与计算机》
CSCD
北大核心
2004年第8期23-25,共3页
在实际电路系统中,混合电路所占比例是很大的,而混合电路的故障诊断没有较为成熟的方法可依从。文章对混合电路的故障诊断提出了整体处理的方法和准测试通路的概念。
关键词
混合电路
故障诊断
准测试通路
算法
下载PDF
职称材料
题名
数模混合电路故障诊断系统的算法研究
被引量:
1
1
作者
应合理
机构
长安大学信息工程学院
出处
《微电子学与计算机》
CSCD
北大核心
2004年第8期23-25,共3页
文摘
在实际电路系统中,混合电路所占比例是很大的,而混合电路的故障诊断没有较为成熟的方法可依从。文章对混合电路的故障诊断提出了整体处理的方法和准测试通路的概念。
关键词
混合电路
故障诊断
准测试通路
算法
Keywords
Mix circuit,Malfunction examination,Ready examination access,Calcu lation method
分类号
TP306.1 [自动化与计算机技术—计算机系统结构]
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题名
作者
出处
发文年
被引量
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1
数模混合电路故障诊断系统的算法研究
应合理
《微电子学与计算机》
CSCD
北大核心
2004
1
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