高质量过程控制技术的比较研究与分析

随着质量改进活动的不断开展,现代制造过程中的不合格项在逐渐降低。在这种情况下,常规的休哈特型计数控制图往往是失效的。为了监控高质量的过程运行,一种方法是采用累计合格品计数(CCC)图;另一种方法是采用几何Q图,本文首先分析了这两种控制图的基本原理;进而以平均链长(ARL)和探测过程发生漂移的概率为准则,系统分析和比较了这两种控制图的性能,仿真结果表明,在大多数情况下,这两种控制图具有相似的性能;最后,通过实例说明了这两种控制图的应用,并给出了若干建议。