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体硅CMOS FinFET结构与特性研究 被引量:1
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作者 殷华湘 徐秋霞 《电子学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2005年第8期1484-1486,共3页
建立在SOI衬底上的FinFET结构被认为是最具全面优势的非常规MOS器件结构.本文通过合理的设计将FinFET结构迁移到普通体硅衬底上,利用平面凹槽器件的特性解决了非绝缘衬底对器件短沟道效应的影响,同时获得了一些标准集成电路工艺上的改... 建立在SOI衬底上的FinFET结构被认为是最具全面优势的非常规MOS器件结构.本文通过合理的设计将FinFET结构迁移到普通体硅衬底上,利用平面凹槽器件的特性解决了非绝缘衬底对器件短沟道效应的影响,同时获得了一些标准集成电路工艺上的改进空间.运用标准CMOS工艺实际制作的体硅CMOSFinFET器件获得了较好的性能结果并成功地集成到CMOS反相器和环形振荡器中.结构分析与实验结果证明了体硅CMOSFinFET在未来电路中的应用前景. 展开更多
关键词 鱼脊形场效应晶体管 体硅 凹槽器件 新结构 CMOS
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CMOS FinFET Fabricated on Bulk Silicon Substrate 被引量:1
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作者 殷华湘 徐秋霞 《Journal of Semiconductors》 EI CAS CSCD 北大核心 2003年第4期351-356,共6页
A CMOS FinFET fabricated on bulk silicon substrate is demonstrated.Besides owning a FinFET structure similar to the original FinFET on SOI,the device combines a grooved planar MOSFET in the Si substrate and the fabric... A CMOS FinFET fabricated on bulk silicon substrate is demonstrated.Besides owning a FinFET structure similar to the original FinFET on SOI,the device combines a grooved planar MOSFET in the Si substrate and the fabrication processes are fully compatible with conventional CMOS process,including salicide technology.The CMOS device,inverter,and CMOS ring oscillator of this structure with normal poly silicon and W/TiN gate electrode are fabricated respectively.Driving current and sub threshold characteristics of CMOS FinFET on Si substrate with actual gate length of 110nm are studied.The inverter operates correctly and minimum per stage delay of 201 stage ring oscillator is 146ps at V d=3V.The result indicates the device is a promising candidate for the application of future VLSI circuit. 展开更多
关键词 FINFET GROOVE design FABRICATION device characteristics CMOS bulk Si substrate
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