基于LCR测试仪的“大变小”籽瓜果皮电学参数分析

LCR测试仪作为一种果蔬类无损检测设备,逐渐为果蔬品质分级筛选提供了保证,采用平行板电极法对大变小籽瓜果皮8个电学特性随频率的变化而变化的规律进行测定,并且对这8个电学特性进行相关性分析。通过测试发现,在163.28~8 000 kHz范围内,随着测试频率的升高,大变小籽瓜果皮的阻抗、品质因数、并联等效电容和并联等效电阻均一直减小。电抗、电导和并联等效电感均一直增加。其损耗因子呈先减小后增大的规律。相关性分析表明:大变小籽瓜果皮的Z与Q、Cp、Rp, G与Lp、X,Q与Cp、Rp, Cp与Rp, Lp与X,X与D均呈极显著正相关;大变小籽瓜果皮的Z与G、Lp、X、D,G与Q、Cp、Rp, Q与Lp、D,Cp与Lp、X、D,Lp与Rp, Rp与X、D,均呈极显著负相关;G与D,Lp与D均呈显著正相关;Q与X呈显著负相关,该结果可为籽瓜无损检测技术和籽瓜生产线中的分级筛选机械提供理论依据。