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基于扫描链平衡的3D SoC测试优化方法
被引量:
11
1
作者
王伟
李欣
+3 位作者
陈田
刘军
方芳
吴玺
《电子测量与仪器学报》
CSCD
2012年第7期586-590,共5页
三维芯片由于其高性能和低功耗越来越受到人们的欢迎。SoC技术是把一个完整的系统集成到单个(或少数几个)芯片上,从而实现整个系统功能复杂的集成电路。以细粒度划分的3D SoC实现了真正意义上的3D芯核。它降低了单个芯核内的局部和全局...
三维芯片由于其高性能和低功耗越来越受到人们的欢迎。SoC技术是把一个完整的系统集成到单个(或少数几个)芯片上,从而实现整个系统功能复杂的集成电路。以细粒度划分的3D SoC实现了真正意义上的3D芯核。它降低了单个芯核内的局部和全局互连线的长度,在功耗和性能方面会有很大的改进。但是随着划分层数的不同,测试开销也会发生变化。本文通过扫描链平衡提出考虑测试时间和测试存储的测试开销函数,以便找到最优的划分层数。在ITC’02基准SoC集上的实验结果表明,通过扫描链平衡技术后得到的测试开销比普通测试开销最高降低了19.9%。
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关键词
划分层数
扫描链平衡
测试开销
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职称材料
题名
基于扫描链平衡的3D SoC测试优化方法
被引量:
11
1
作者
王伟
李欣
陈田
刘军
方芳
吴玺
机构
合肥工业大学计算机与信息学院
情感计算与先进智能机器安徽省重点实验室
合肥工业大学管理学院
出处
《电子测量与仪器学报》
CSCD
2012年第7期586-590,共5页
基金
国家自然科学基金项目(No.61106037)
国家高技术研究发展计划(863计划
+4 种基金
No.2012AA011103)
中央高校基本科研业务费专项资金资助
合肥工业大学研究生教改项目(YJG2010X10)
合肥工业大学博士专项科研资助基金项目(2011HGBZ1285)
计算机体系结构国家重点实验室开放课题(CARCH201101)
文摘
三维芯片由于其高性能和低功耗越来越受到人们的欢迎。SoC技术是把一个完整的系统集成到单个(或少数几个)芯片上,从而实现整个系统功能复杂的集成电路。以细粒度划分的3D SoC实现了真正意义上的3D芯核。它降低了单个芯核内的局部和全局互连线的长度,在功耗和性能方面会有很大的改进。但是随着划分层数的不同,测试开销也会发生变化。本文通过扫描链平衡提出考虑测试时间和测试存储的测试开销函数,以便找到最优的划分层数。在ITC’02基准SoC集上的实验结果表明,通过扫描链平衡技术后得到的测试开销比普通测试开销最高降低了19.9%。
关键词
划分层数
扫描链平衡
测试开销
Keywords
partitioning tiers
balance of scan chain
test cost
分类号
TP391.7 [自动化与计算机技术—计算机应用技术]
TN9 [电子电信—信息与通信工程]
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题名
作者
出处
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被引量
操作
1
基于扫描链平衡的3D SoC测试优化方法
王伟
李欣
陈田
刘军
方芳
吴玺
《电子测量与仪器学报》
CSCD
2012
11
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