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FPGA刷新控制电路测试方法的研究
1
作者
晏慧强
黄晓彬
谢文虎
《电子与封装》
2022年第11期13-18,共6页
SRAM型现场可编程门阵列(FPGA)电路信号处理性能强大,在航天器中应用非常广泛。但SRAM型FPGA的逻辑单元在存在大量宇宙射线和高能粒子的空间环境中容易发生单元翻转现象,导致器件逻辑功能异常。通过刷新控制电路对FPGA的逻辑功能持续刷...
SRAM型现场可编程门阵列(FPGA)电路信号处理性能强大,在航天器中应用非常广泛。但SRAM型FPGA的逻辑单元在存在大量宇宙射线和高能粒子的空间环境中容易发生单元翻转现象,导致器件逻辑功能异常。通过刷新控制电路对FPGA的逻辑功能持续刷新,是当下解决单元翻转问题的通用方法。为了满足抗单粒子翻转的系统需求,FPGA刷新控制电路本身的抗单粒子翻转性能也需要通过一定的试验方法进行充分验证。设计了1种辐照试验测试方法,对FPGA刷新控制电路进行了辐照测试,通过该辐照方法系统地验证了该电路的抗单粒子翻转性能。
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关键词
单粒子翻转
FPGA
刷新控制电路
辐照试验
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职称材料
题名
FPGA刷新控制电路测试方法的研究
1
作者
晏慧强
黄晓彬
谢文虎
机构
无锡中微亿芯有限公司
出处
《电子与封装》
2022年第11期13-18,共6页
文摘
SRAM型现场可编程门阵列(FPGA)电路信号处理性能强大,在航天器中应用非常广泛。但SRAM型FPGA的逻辑单元在存在大量宇宙射线和高能粒子的空间环境中容易发生单元翻转现象,导致器件逻辑功能异常。通过刷新控制电路对FPGA的逻辑功能持续刷新,是当下解决单元翻转问题的通用方法。为了满足抗单粒子翻转的系统需求,FPGA刷新控制电路本身的抗单粒子翻转性能也需要通过一定的试验方法进行充分验证。设计了1种辐照试验测试方法,对FPGA刷新控制电路进行了辐照测试,通过该辐照方法系统地验证了该电路的抗单粒子翻转性能。
关键词
单粒子翻转
FPGA
刷新控制电路
辐照试验
Keywords
single event upset
FPGA
refresh control circuit
irradiation test
分类号
TN911 [电子电信—通信与信息系统]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
FPGA刷新控制电路测试方法的研究
晏慧强
黄晓彬
谢文虎
《电子与封装》
2022
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