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ICP干法刻蚀GaAs背孔工艺研究 被引量:6
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作者 周佳辉 常虎东 +6 位作者 张旭芳 徐文俊 李琦 李思敏 何志毅 刘洪刚 李海鸥 《真空科学与技术学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2015年第3期306-310,共5页
采用金属Ni作为掩膜,Cl2/BCl3作为刻蚀气体,利用感应耦合等离子体刻蚀(ICP)技术对Ga As HEMT背孔工艺进行研究。本文详细研究了ICP功率、反应室压强、Cl2/BCl3流量比以及RF功率对刻蚀速率、刻蚀形貌以及"长草"效应的影响。实... 采用金属Ni作为掩膜,Cl2/BCl3作为刻蚀气体,利用感应耦合等离子体刻蚀(ICP)技术对Ga As HEMT背孔工艺进行研究。本文详细研究了ICP功率、反应室压强、Cl2/BCl3流量比以及RF功率对刻蚀速率、刻蚀形貌以及"长草"效应的影响。实验结果表明:刻蚀速率随ICP功率、Cl2/BCl3流量、RF功率的增加而增加,但随反应室压强的增加,刻蚀速率先增加后降低;相同RF功率条件下,背孔陡直性受ICP功率、反应室压强以及刻蚀气体流量比的影响十分明显;而RF功率则对背孔"长草"效应有较大影响。通过优化刻蚀条件,在ICP功率为500 W,反应室压强为0.4 Pa,Cl2/BCl3流量为20/5 m L/min,RF功率为120 W的刻蚀条件下,刻蚀背孔陡直性好,侧壁平滑,底部平整,刻蚀速率达到3μm/min。 展开更多
关键词 感应耦合等离子体 “长草”效应 GAAS 刻蚀形貌
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基于片内热管理应用的碳化硅深孔刻蚀研究 被引量:1
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作者 黄语恒 郭怀新 +1 位作者 孔月婵 陈堂胜 《电子元件与材料》 CAS CSCD 北大核心 2019年第9期99-104,共6页
针对传统SiC衬底GaN器件高功率密度工作时的热积累问题,开展基于芯片内部嵌入高热导率材料的GaN器件芯片级热管理技术研究。在实现工艺兼容性的基础上,采用反应离子刻蚀技术对GaN器件有源区下端的SiC衬底进行深孔刻蚀工艺研究,系统地分... 针对传统SiC衬底GaN器件高功率密度工作时的热积累问题,开展基于芯片内部嵌入高热导率材料的GaN器件芯片级热管理技术研究。在实现工艺兼容性的基础上,采用反应离子刻蚀技术对GaN器件有源区下端的SiC衬底进行深孔刻蚀工艺研究,系统地分析了刻蚀气体、射频功率及腔室压强等工艺参数对刻蚀速率的影响,并结合能谱对刻蚀表面的质量和损伤进行分析。实验发现射频功率仅能影响刻蚀速率,而刻蚀气体和压强不仅影响其刻蚀速率,还影响其刻蚀表面质量。最终提出了一种基于反应离子刻蚀技术的SiC深孔刻蚀方法,对器件热管理和SiC深孔刻蚀技术具有重要的指导意义。 展开更多
关键词 热管理 碳化硅 反应离子刻蚀 刻蚀 表面损伤
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应用于有源芯片三维集成的小孔径高深宽比TSV刻蚀工艺 被引量:4
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作者 赵鸿 李宝霞 +2 位作者 房玉亮 王文杰 吴玮 《微纳电子技术》 北大核心 2020年第9期748-753,共6页
为了完成有源芯片上小孔径、高深宽比硅通孔(TSV)的制作,研究了基于电感耦合等离子体(ICP)技术的SiO2微孔深刻蚀工艺,实现了以C4F8/Ar为刻蚀气体源、刻蚀速率为0.612μm/min、刻蚀选择比为2.122、刻蚀角度为80.573°的SiO2微孔刻蚀... 为了完成有源芯片上小孔径、高深宽比硅通孔(TSV)的制作,研究了基于电感耦合等离子体(ICP)技术的SiO2微孔深刻蚀工艺,实现了以C4F8/Ar为刻蚀气体源、刻蚀速率为0.612μm/min、刻蚀选择比为2.122、刻蚀角度为80.573°的SiO2微孔刻蚀;优化了小孔径、高深宽比TSV刻蚀形貌。通过降低衬底温度,消除了"咬边"现象,通过缩短单步循环中刻蚀时间和钝化时间,减小了"扇贝"尺寸,实现了TSV孔径约为5μm、深宽比为10∶1、侧壁光滑、无"咬边"现象的TSV刻蚀。结合优化后的SiO2微孔刻蚀工艺和小孔径、高深宽比TSV刻蚀工艺完成了表面具有约10μm厚的SiO2、孔径约为5μm、深宽比大于10∶1的TSV刻蚀。 展开更多
关键词 硅通(TSV) 有源芯片 三维集成 SiO2微刻蚀 高深宽比
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40nm节点高深宽比接触孔刻蚀电性能稳定性改善
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作者 贺金鹏 蒋晓钧 +4 位作者 明安杰 傅剑宇 罗军 王玮冰 陈大鹏 《半导体技术》 CAS 北大核心 2019年第3期194-200,共7页
随着工艺节点减小,对高深宽比接触孔形貌和关键尺寸的精准控制变得愈加困难。基于40 nm逻辑器件量产数据,研究了高深宽比接触孔刻蚀工艺参数和刻蚀设备内部耗材的磨损对器件电性能稳定性的影响,并提出了工艺改进方案。通过减小SiO_2厚度... 随着工艺节点减小,对高深宽比接触孔形貌和关键尺寸的精准控制变得愈加困难。基于40 nm逻辑器件量产数据,研究了高深宽比接触孔刻蚀工艺参数和刻蚀设备内部耗材的磨损对器件电性能稳定性的影响,并提出了工艺改进方案。通过减小SiO_2厚度,减小接触孔深宽比,从而改善孔内聚合物在孔底部沉积的问题;通过优化刻蚀工艺参数提高SiN/SiO_2刻蚀选择比,保持刻蚀后SiO_2的厚度与改进前工艺相同。测试结果表明,工艺改进后接触孔底部关键尺寸稳定性提升36%,接触电阻稳定性提升20%。通过工艺改进提高了电参数稳定性,对40 nm工艺节点逻辑器件产品良率提升起到了关键作用。 展开更多
关键词 高深宽比 接触刻蚀 侧壁形貌 刻蚀选择比 接触电阻 刻蚀设备耗材
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基于硅基WLP封装的深孔刻蚀工艺研究 被引量:2
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作者 倪烨 徐浩 +3 位作者 孟腾飞 袁燕 王君 张玉涛 《材料导报》 EI CAS CSCD 北大核心 2021年第S02期110-114,共5页
本工作针对硅基晶圆级封装(WLP,Wafer level package)的关键工艺技术——深孔刻蚀工艺进行了研究,通过对掩蔽层材料的选择和图形化工艺研究,制备出满足深孔刻蚀工艺要求的掩蔽层,并采用干法刻蚀设备进行深孔刻蚀和工艺优化,最终制作出... 本工作针对硅基晶圆级封装(WLP,Wafer level package)的关键工艺技术——深孔刻蚀工艺进行了研究,通过对掩蔽层材料的选择和图形化工艺研究,制备出满足深孔刻蚀工艺要求的掩蔽层,并采用干法刻蚀设备进行深孔刻蚀和工艺优化,最终制作出工艺指标为:刻蚀深度185μm、深宽比9∶1、陡直度90.08°、侧壁粗糙度小于64 nm、选择比46∶1的硅深孔样品。该深孔刻蚀工艺可应用于薄膜体声波滤波器(FBAR,Film bulk acoustic resonator)晶圆级封装工艺的硅通孔互联(TSV,Through silicon via)技术中。 展开更多
关键词 晶圆级封装 刻蚀 硅通互联
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电化学刻蚀制备宏孔硅研究
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作者 施建兴 胡芸 谢凯 《广东化工》 CAS 2004年第9期15-16,共2页
半导体硅在含HF电解液阳极氧化体系中可以形成不同的腐蚀形态。当采用背面照明,且反应电流密度小于某个临界值时,可以在N型硅抛光片沿(100)晶向刻蚀产生宏孔结构,控制电化学条件能够调整宏孔的孔径、间距等形貌参数。本文采用相同电阻率... 半导体硅在含HF电解液阳极氧化体系中可以形成不同的腐蚀形态。当采用背面照明,且反应电流密度小于某个临界值时,可以在N型硅抛光片沿(100)晶向刻蚀产生宏孔结构,控制电化学条件能够调整宏孔的孔径、间距等形貌参数。本文采用相同电阻率N型抛光(100)硅片,考查了恒流条件下不同工作电流、照明强度对刻蚀反应以及刻蚀表面形貌的影响。 展开更多
关键词 单晶硅片 电化学刻蚀
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55 nm接触孔刻蚀工艺改善 被引量:2
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作者 龚华 《集成电路应用》 2018年第6期23-25,共3页
55 nm接触孔刻蚀在该工艺窗口检查发现严重良率损失的问题,通过改变接触孔刻蚀这个工艺模块的工艺流程,使用了更先进的图形膜工艺可以解决这一问题。先进图形膜工艺与传统光刻胶相比对刻蚀后的接触孔边缘条纹与变形可进行良好的控制,图... 55 nm接触孔刻蚀在该工艺窗口检查发现严重良率损失的问题,通过改变接触孔刻蚀这个工艺模块的工艺流程,使用了更先进的图形膜工艺可以解决这一问题。先进图形膜工艺与传统光刻胶相比对刻蚀后的接触孔边缘条纹与变形可进行良好的控制,图形转移能力更加可靠与稳定。调试中,利用电子束扫描的方法来验证新条件是否良好,可以大大缩短调试周期,并且节约成本。使用了先进图形膜工艺,接触孔的物理形貌完全符合量产的要求,并且最终将接触孔刻蚀关键尺寸缩减了7 nm,相应的工艺窗口也变大;成功将55 nm接触孔刻蚀套准精度提高33%,接触孔光刻的对准工艺窗口从15 nm扩大到了20 nm,更加利于量产的控制。 展开更多
关键词 集成电路制造 接触刻蚀 光阻 先进图形膜 关键尺寸 工艺窗口
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高密度电容器件的制备及其可靠性
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作者 商庆杰 王敬轩 +2 位作者 董春晖 宋洁晶 杨志 《电子工艺技术》 2024年第3期13-16,共4页
介绍了一种基于微机械加工技术(MicroElectronMechanical System,MEMS)的硅基高密度电容芯片的制备方法。该电容芯片采用了深孔刻蚀、介质淀积生长以及原位掺杂多晶硅等工艺技术,实现了高击穿电压(50V@1μA)、高电容密度(38.8~39.5nF/mm... 介绍了一种基于微机械加工技术(MicroElectronMechanical System,MEMS)的硅基高密度电容芯片的制备方法。该电容芯片采用了深孔刻蚀、介质淀积生长以及原位掺杂多晶硅等工艺技术,实现了高击穿电压(50V@1μA)、高电容密度(38.8~39.5nF/mm^(2))的电容芯片制备。 展开更多
关键词 微系统芯片 高密度电容 刻蚀 原位掺杂多晶硅
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Ag纳米颗粒等离激元光散射增强对Si刻蚀形貌的影响机制
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作者 戴菡 赵俊凤 +5 位作者 孙杰 余鑫祥 房洪杰 纪仁龙 祝贞凤 吕正风 《材料导报》 EI CAS CSCD 北大核心 2017年第A02期479-483,共5页
通过实验与有限元(FDTD)模拟系统研究了不同粒径尺寸的Ag纳米颗粒在P(100)Si表面刻蚀过程中等离激元光散射增强对刻蚀孔形貌的影响。SEM结果表明,刻蚀孔由与粒径尺寸接近的垂直孔演化为一种上大下小的火炬状形貌特征孔,该孔的直径与纳... 通过实验与有限元(FDTD)模拟系统研究了不同粒径尺寸的Ag纳米颗粒在P(100)Si表面刻蚀过程中等离激元光散射增强对刻蚀孔形貌的影响。SEM结果表明,刻蚀孔由与粒径尺寸接近的垂直孔演化为一种上大下小的火炬状形貌特征孔,该孔的直径与纳米颗粒尺寸散射半径相仿。模拟不同粒径的Ag纳米颗粒进入刻蚀孔后的光散射特征,证实了Ag纳米颗粒等离激元散射对刻蚀孔初期形成的重要作用。分析表明,基于光照条件下电子-空穴的激发特征,刻蚀孔的形貌主要依赖Ag纳米颗粒等离激元散射的光增强,即通过改变入射光频率以及Ag纳米颗粒粒径可以有效地调控Si表面形貌特征。Ag纳米颗粒等离激元光散射增强技术在Si基太阳能电池、发光二极管(LED)器件等领域有潜在应用前景。 展开更多
关键词 AG纳米颗粒 等离激元 Si刻蚀 刻蚀孔形貌 光催化
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不同厚度GaAs通孔技术研究
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作者 闫未霞 彭挺 +3 位作者 郭盼盼 强欢 莫中友 孔欣 《电子与封装》 2021年第11期48-52,共5页
研究了不同厚度GaAs的通孔工艺,在以GaAs为衬底的加工工艺中,通孔工艺是GaAs的重要工艺,直接影响着器件的性能。阐述了目前GaAs厚度为100μm的工艺情况,分析了GaAs厚度为150μm时的深孔刻蚀。通过对刻蚀工艺中不同压强和不同偏置功率的... 研究了不同厚度GaAs的通孔工艺,在以GaAs为衬底的加工工艺中,通孔工艺是GaAs的重要工艺,直接影响着器件的性能。阐述了目前GaAs厚度为100μm的工艺情况,分析了GaAs厚度为150μm时的深孔刻蚀。通过对刻蚀工艺中不同压强和不同偏置功率的研究,掌握GaAs深度为200μm的深孔刻蚀工艺。根据研究200μm深孔刻蚀工艺的经验,开发深度为250μm的深孔刻蚀工艺。 展开更多
关键词 砷化镓 厚度 刻蚀 偏置功率
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基于表面微加工标准工艺的电容式MEMS麦克风
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作者 林琳 周博华 +1 位作者 赖丽燕 李以贵 《微纳电子技术》 CAS 北大核心 2023年第5期737-743,共7页
设计了一种基于微电子机械系统(MEMS)工艺的电容式麦克风的结构,并基于表面微加工工艺制备了MEMS麦克风。为了优化麦克风结构,通过对比现有麦克风的优缺点,在麦克风可动电极的支撑部分设计了带有刻蚀孔的结构。仿真结果表明,该结构可减... 设计了一种基于微电子机械系统(MEMS)工艺的电容式麦克风的结构,并基于表面微加工工艺制备了MEMS麦克风。为了优化麦克风结构,通过对比现有麦克风的优缺点,在麦克风可动电极的支撑部分设计了带有刻蚀孔的结构。仿真结果表明,该结构可减小空气阻尼、提高麦克风的信噪比和麦克风在低频段的灵敏度。该麦克风结构的制备工艺可标准化,以便代加工。测试结果表明,在偏置电压为0~20 V时,麦克风的静电电容随着偏置电压的增大而增大,并且预计偏置电压达到20 V附近时可动电极与固定电极接触。本研究为MEMS电容式麦克风的结构优化提供了一种可靠的方案。 展开更多
关键词 微电子机械系统(MEMS) 麦克风 表面微加工 刻蚀孔 静电电容
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单型掺杂柱电极的3D硅像素探测器的器件与制造工艺研究 被引量:1
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作者 明希 殷华湘 +7 位作者 孟令款 李俊杰 贾云丛 李贞杰 袁烽 江晓山 刘鹏 陈大鹏 《半导体光电》 CAS 北大核心 2015年第2期197-201,共5页
设计了一种新的3D硅像素探测器的器件结构以简化制造工艺。该结构仅包含一种掺杂类型的柱状电极。通过工业级TCAD仿真对这种结构的电学特性进行了深入研究,阐述了它的技术优势及潜在缺陷。同时研究了制造这种3D硅像素探测器的特殊工艺... 设计了一种新的3D硅像素探测器的器件结构以简化制造工艺。该结构仅包含一种掺杂类型的柱状电极。通过工业级TCAD仿真对这种结构的电学特性进行了深入研究,阐述了它的技术优势及潜在缺陷。同时研究了制造这种3D硅像素探测器的特殊工艺流程和相关关键工艺,并给出了主要工艺结果。 展开更多
关键词 硅像素探测器 3D硅像素探测器 TCAD仿真 刻蚀
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高电容密度硅基MIS芯片电容
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作者 汤寅 张龙 +4 位作者 杨党利 谭德喜 姚伟明 王霄 周剑明 《固体电子学研究与进展》 CAS CSCD 北大核心 2018年第4期297-300,共4页
制备了一种3D结构的硅基金属-绝缘层-半导体(MIS)芯片电容,通过深孔结构增大了电容的有效电极面积,从而极大程度地提升了电容密度,在耐压70V下其电容密度高达20nF/mm2,是传统平面MIS电容的50倍,在-55~150℃内其温度系数小于1%。
关键词 硅基电容器 刻蚀 高电容密度
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基于SGOI和CESL结构的新型应变硅NMOSFET的有限元研究
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作者 周东 张庆东 顾晓峰 《微电子学》 CAS CSCD 北大核心 2010年第3期444-447,共4页
应变硅技术通过在沟道区引入适当的应变,达到提高载流子迁移率、改善MOS器件性能的目的。利用有限元法,研究了一种基于SGOI与氮化硅CESL应变结构的新型应变硅NMOS-FET。结果表明,与采用单一的SGOI或CESL结构相比,两者共同作用下的新结... 应变硅技术通过在沟道区引入适当的应变,达到提高载流子迁移率、改善MOS器件性能的目的。利用有限元法,研究了一种基于SGOI与氮化硅CESL应变结构的新型应变硅NMOS-FET。结果表明,与采用单一的SGOI或CESL结构相比,两者共同作用下的新结构能更有效地提高沟道应变。增加氮化硅薄膜的本征应力、减小应变硅层厚度、适当提高锗组分,均能有效增加硅沟道区的应变量。采用有限元分析进行的模拟研究,可弥补实验测量的不足,为纳米级应变硅器件的设计和制造提供参考。 展开更多
关键词 应变硅 绝缘体上锗硅 接触刻蚀阻挡层 NMOS场效应管 有限元分析
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一种MEMS压控电容设计及其相位噪声分析
15
作者 王政 刘泽文 《功能材料与器件学报》 CAS CSCD 北大核心 2008年第2期539-543,共5页
给出了一种MEMS压控电容的设计和相位噪声分析结果。在电容器结构中引入衬底金属层以达到控制寄生电容的目的;使用HFSS进行了上极板开孔对电容的影响的仿真,得到了不影响电容值的最佳尺寸是5微米。在恒寄生电容的假设下分析了MEMS压控... 给出了一种MEMS压控电容的设计和相位噪声分析结果。在电容器结构中引入衬底金属层以达到控制寄生电容的目的;使用HFSS进行了上极板开孔对电容的影响的仿真,得到了不影响电容值的最佳尺寸是5微米。在恒寄生电容的假设下分析了MEMS压控电容的相位噪声,在SPICE模型基础上使用HSPICE进行了相位噪声仿真,分析发现布朗运动所产生的相位噪声的典型值是-176dBc/Hz,环境声波造成的相位噪声的典型值是-137dBc/Hz。 展开更多
关键词 MEMS压控电容 可控寄生电容 刻蚀孔 相位噪声
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High hydrosilylation efficiency of porous silicon SiHx species produced by Pt-assisted chemical etching for biochip fabrication 被引量:1
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作者 XIAO MinYu HAN HuanMei XIAO ShouJun 《Science China Chemistry》 SCIE EI CAS 2013年第8期1152-1163,共12页
Porous silicon (PSi) prepared from Pt metal-assisted chemical etching (MACE) was demonstrated to possess higher hydrosi- lylation efficiency (-57%) than anodized PSi (-11%) by surface reaction with co-undeceny... Porous silicon (PSi) prepared from Pt metal-assisted chemical etching (MACE) was demonstrated to possess higher hydrosi- lylation efficiency (-57%) than anodized PSi (-11%) by surface reaction with co-undecenyl alcohol (UO). Deconvolution of the SiHx (x = 1-3) stretching bands revealed the abundance of SiH2 species on MaCE PSi was 53%, -10% higher than on ano- dized samples, while both of Sill1 and Sill3 were -5% lower correspondently on MaCE PSi than on anodized samples. The surface SiHx abundances were suggested to account for the higher hydrosilylation efficiency on MaCE PSi. Optimization of Pt-assisted chemical etching parameters suggested a 7-15 nm thick Pt-coating and an etching time of 3-10 min for biochip ap- plications. Scanning electron microscopy images revealed that an isotropic top meso-porous layer was beneficial for hydrosi- lylation and long-term durability under ambient conditions. To end, an example of histidine-tagged protein immobilization and microarray was illustrated. Combining the materials' property, surface chemistry, and micro-fabrication technology together, we envision that silicon based biochip applications have a prosperous future. 展开更多
关键词 metal-assisted chemical etching porous silicon surface chemistry HYDROSILYLATION BIOCHIP
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