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垂直轮廓剖面迹线法测定聚合物材料断面粗糙度的研究 被引量:5
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作者 于杰 金志浩 周惠久 《材料研究学报》 EI CAS CSCD 1994年第2期177-182,共6页
运用垂直轮廓剖面迹线法测定了聚合物材料的断面轮廓线粗糙度参数RL及聚合物材料冲击强度和断口表面粗糙度参数RS的关系,实验结果指出:聚合物的断面轮廓线粗糙度与试样形状、断裂性质及断口形貌等因素有关缺口试样断口形貌均衡分... 运用垂直轮廓剖面迹线法测定了聚合物材料的断面轮廓线粗糙度参数RL及聚合物材料冲击强度和断口表面粗糙度参数RS的关系,实验结果指出:聚合物的断面轮廓线粗糙度与试样形状、断裂性质及断口形貌等因素有关缺口试样断口形貌均衡分布时,试样两表面的测量值相等;脆断试样表面和心部测量结果相同;韧断试样表面测量结果大于心部测量结果.无缺口试样冲击脆断时,试样表面测量结果与断裂源位置有关,心部测量结果一般大于两表面测量平均值脆断条件下。 展开更多
关键词 断面粗糙度 剖面迹线法 高聚物
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