LTE基站发射功率动态范围测试分析及研究

文章总结了LTE基站射频拉远单元(RRU)下行输出功率动态范围的测试方法,针对在该测试过程中通常碰到的基于协议3gpp 36.141文献[1]中规定EUTRA E-TM2测试模式可能出现的2种异常现象,给出具体的定位分析,并提出了具体的解决方案,对RRU的下行(DL)闭环功率控制(CLGC)策略进行了改进。结合实际测试证明了该改进方法的有效性,为产品工程设计提供指导。

为DWDM测试选择最佳光谱分析仪

文章介绍了光谱分析仪的基本原理和关键技术指标,并针对DWDM测试,给出了用户在选择光谱分析仪时必须考虑的一些特性。

无源光网络光回波损耗工程设计及应用

无源光网络(PON)提供的高带宽业务性能依赖于光分配网络(ODN)质量。在满足光功率预算的条件下,光回波损耗(ORL)是度量ODN健康度的重要指标。通过ORL的定义与计算方法,描述了ORL对业务的影响。参考相关国际/国内标准,确定了PON中ORL指标。通过动态光功率范围测试、替代测量和定位方案的应用,描述了ORL问题的排查方案。对比分析了工程实践中ORL指标劣化的因素,提出了解决措施和建议。通过多种手段的综合应用,才能保证高比特率应用场景下,端到端的业务质量和用户感知。