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功能块级电路测试产生与故障模拟中的一些基本问题
1
作者
魏道政
《电子测量与仪器学报》
CSCD
1994年第3期1-9,共9页
本文讨论以功能块为单位的数字电路测试产生与故障模拟中的一些基本问题,包括功能快的描述,故障模型,故障效应的传播,扇出重汇聚,功能块划分成单元,整个电路划分成锥体,锥体中的截面等问题,其中有些概念是门级电路中类似概念在...
本文讨论以功能块为单位的数字电路测试产生与故障模拟中的一些基本问题,包括功能快的描述,故障模型,故障效应的传播,扇出重汇聚,功能块划分成单元,整个电路划分成锥体,锥体中的截面等问题,其中有些概念是门级电路中类似概念在功能块级电路中的推广。
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关键词
功能块级
故障
电路测试
故障模拟
下载PDF
职称材料
数字电路功能块级随机可测性
2
作者
张克农
郑崇勋
《微电子测试》
1989年第4期9-13,19,共6页
关键词
数字电路
功能块级
可测性
随机
下载PDF
职称材料
题名
功能块级电路测试产生与故障模拟中的一些基本问题
1
作者
魏道政
机构
中国科学院计算技术研究所CAD开放实验室
出处
《电子测量与仪器学报》
CSCD
1994年第3期1-9,共9页
文摘
本文讨论以功能块为单位的数字电路测试产生与故障模拟中的一些基本问题,包括功能快的描述,故障模型,故障效应的传播,扇出重汇聚,功能块划分成单元,整个电路划分成锥体,锥体中的截面等问题,其中有些概念是门级电路中类似概念在功能块级电路中的推广。
关键词
功能块级
故障
电路测试
故障模拟
Keywords
Functional block level circuit
Fault model
Fault effect
Reconvergent fanout
Cone
Section
分类号
TM930.1 [电气工程—电力电子与电力传动]
下载PDF
职称材料
题名
数字电路功能块级随机可测性
2
作者
张克农
郑崇勋
出处
《微电子测试》
1989年第4期9-13,19,共6页
关键词
数字电路
功能块级
可测性
随机
分类号
TN431.207 [电子电信—微电子学与固体电子学]
下载PDF
职称材料
题名
作者
出处
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1
功能块级电路测试产生与故障模拟中的一些基本问题
魏道政
《电子测量与仪器学报》
CSCD
1994
0
下载PDF
职称材料
2
数字电路功能块级随机可测性
张克农
郑崇勋
《微电子测试》
1989
0
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职称材料
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