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μ-TAS领域光谱检测“集成缩微”现状及激光微技术的研究
1
作者
吴坚
古冬冬
任艺
《计量学报》
EI
CSCD
北大核心
2008年第B09期222-225,共4页
光谱微检测技术是微全分析系统(μ-TAS)生化芯片的常用核心技术之一。对国内外相关文献进行分析表明,“功能集成与结构缩微”技术是当前μ-TAS领域对光谱微检测提出的迫切要求。对“集成与缩微”方面研究现状进行了综述,并对与此有...
光谱微检测技术是微全分析系统(μ-TAS)生化芯片的常用核心技术之一。对国内外相关文献进行分析表明,“功能集成与结构缩微”技术是当前μ-TAS领域对光谱微检测提出的迫切要求。对“集成与缩微”方面研究现状进行了综述,并对与此有关的激光微技术研究作了展望。
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关键词
计量学
微
型全分析系统
光谱检测
功能集成结构缩微
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职称材料
题名
μ-TAS领域光谱检测“集成缩微”现状及激光微技术的研究
1
作者
吴坚
古冬冬
任艺
机构
北京工业大学激光工程研究院
出处
《计量学报》
EI
CSCD
北大核心
2008年第B09期222-225,共4页
文摘
光谱微检测技术是微全分析系统(μ-TAS)生化芯片的常用核心技术之一。对国内外相关文献进行分析表明,“功能集成与结构缩微”技术是当前μ-TAS领域对光谱微检测提出的迫切要求。对“集成与缩微”方面研究现状进行了综述,并对与此有关的激光微技术研究作了展望。
关键词
计量学
微
型全分析系统
光谱检测
功能集成结构缩微
Keywords
Metrology
Miniaturized total analysis system (μ-TAS)
Spectrum detection
Function integration and structure mieromation
分类号
TB99 [机械工程—测试计量技术及仪器]
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题名
作者
出处
发文年
被引量
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1
μ-TAS领域光谱检测“集成缩微”现状及激光微技术的研究
吴坚
古冬冬
任艺
《计量学报》
EI
CSCD
北大核心
2008
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