应用劳埃法测定晶体的取向和对称性

1 前言 劳埃法目前主要用于测定晶体的取向和对称性。多晶材料的性质在相当大的程序上取决于组成它的单晶体,但单晶体是各向异性的,在研究其性能之前须先确定其取向。在很多实际应用中,例如压电石英、金刚石、半导体材料、激光材料以及磁性材料的单晶体定向切割、琢磨、安放等,都需要测定晶体的取向。较常用的测定晶体取向的方法有光学测角仪法,化学刻腐法,X射线法等,其中用X射线法最准确,所受的局限也最小。

X射线应力分析仪在单晶叶片取向测定中的应用

针对单晶叶片特点，应用Ｘ射线背射劳埃法在Ｘ射线应力分析仪上完成了对单晶叶片取向的测量，并提出了适合生产所需的、简便的衍射花样分析法和取向标定法。