基于改进GhostNet的联排塑瓶微孔检测算法

联排塑瓶包装完整性检测领域,常用高压放电法进行微孔缺陷检测。针对现有的阈值比较法几乎无法检出2μm以下微孔缺陷的问题,分析了基于介质阻挡放电(DBD)的高压放电法电气学模型,发现了检测波形在微孔区域会上下振荡的特征。提出一种基于改进GhostNet的高压放电微孔检测算法。使用Sym2小波基对原始电流数据进行分解重构提取该关键特征,再通过短时傅里叶变换(STFT)生成二维时频图谱作为网络输入。在GhostNet的原型上将G-bneck裁剪到5个,将第1个G-bneck的卷积核尺寸改为1×1,第5个改为5×5。结果表明:优化后的算法测试集准确率达到99.1%,召回率高达99.7%,具有较好的检测效果。