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题名霉菌对化学浸银处理印制电路板腐蚀行为影响
被引量:7
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作者
邹士文
肖葵
董超芳
李慧艳
李晓刚
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机构
北京科技大学腐蚀与防护中心
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出处
《科技导报》
CAS
CSCD
北大核心
2012年第11期21-26,共6页
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基金
航空科学基金项目(2011ZD74003)
国家自然科学基金重点项目(51131005)
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文摘
采用扫描Kelvin探针测试技术研究了化学浸银处理(ImAg)印制电路板(PCB)在霉菌作用下的腐蚀行为,同时通过体视学显微镜、扫描电镜结合能谱分析对PCB的腐蚀和霉菌生长情况进行了观察和分析。电镜和能谱结果表明,在湿热环境下,霉菌可以在浸银处理PCB表面附着并生长繁殖,黑曲霉菌表现出更高活性,具有优先生长特性。霉菌的生长代谢作用促进浸银处理PCB的局部(微孔)腐蚀,出现漏铜现象。结合扫描Kelvin探针结果分析表明,随着时间延长,PCB表面电位整体升高,菌落区域金属作为阳极优先发生腐蚀,腐蚀产物面积逐渐扩大。虽然腐蚀反应中生成了少量带毒性的Ag+,对孢子的生长代谢有一定的抑制作用,但是这并没有阻止PCB-ImAg霉菌腐蚀的发生。浸银处理工艺不能完全抑制PCB表面霉菌的生长,不能完全满足PCB防霉菌的要求。
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关键词
霉菌
印制电路板
扫描KELVIN探针
化学浸银处理
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Keywords
mold
printed circuit board
scanning Kelvin probe
immersion silver
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分类号
TN41
[电子电信—微电子学与固体电子学]
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