通过研究金属钨化学机械研磨(W CMP)后清洗的一种水痕状的缺陷(Water mark like defect),经过一系列的实验,我们发现这种缺陷产生的原因是具有钨插塞(W Plug)结构的晶片在清洗中WO_3被溶解,并在随后的烘干环节中W析出并形成缺陷。在典型...通过研究金属钨化学机械研磨(W CMP)后清洗的一种水痕状的缺陷(Water mark like defect),经过一系列的实验,我们发现这种缺陷产生的原因是具有钨插塞(W Plug)结构的晶片在清洗中WO_3被溶解,并在随后的烘干环节中W析出并形成缺陷。在典型的W CMP之后增加一次DHF的清洗,能清除99.6%的该类型的缺陷,可应用到实际生产中,减少产品缺陷,提高产品良率。展开更多
罗门哈斯电子材料公司(ROH:Rohm and Haas Electronic Materials)宣布.其新型化学机械研磨垫表面沟槽设计能够减少缺陷和研磨液的用量.现已迅速得到全球各地市场的认可。全球各地的客户现在开始采用这些能显著地改善工艺性能的新...罗门哈斯电子材料公司(ROH:Rohm and Haas Electronic Materials)宣布.其新型化学机械研磨垫表面沟槽设计能够减少缺陷和研磨液的用量.现已迅速得到全球各地市场的认可。全球各地的客户现在开始采用这些能显著地改善工艺性能的新型表面沟槽设计.以降低缺陷.延长研磨垫的使用寿命,减少化学机械研磨易耗品的总体成本。展开更多
文摘通过研究金属钨化学机械研磨(W CMP)后清洗的一种水痕状的缺陷(Water mark like defect),经过一系列的实验,我们发现这种缺陷产生的原因是具有钨插塞(W Plug)结构的晶片在清洗中WO_3被溶解,并在随后的烘干环节中W析出并形成缺陷。在典型的W CMP之后增加一次DHF的清洗,能清除99.6%的该类型的缺陷,可应用到实际生产中,减少产品缺陷,提高产品良率。
文摘罗门哈斯电子材料公司(ROH:Rohm and Haas Electronic Materials)宣布.其新型化学机械研磨垫表面沟槽设计能够减少缺陷和研磨液的用量.现已迅速得到全球各地市场的认可。全球各地的客户现在开始采用这些能显著地改善工艺性能的新型表面沟槽设计.以降低缺陷.延长研磨垫的使用寿命,减少化学机械研磨易耗品的总体成本。