矩形反演方法在航放测量中的应用

在主攻北方盆地砂岩型铀矿背景下,航放测量面临新的挑战。多年来,航放测量一直采用半无限反演方法来计算放射性核素含量。采用半无限反演方法反演的信息用于区域铀成矿远景评价有其自身的优势,在砂岩型铀矿勘查中也取得了不少成果,但半无限反演方法较难反演诸如异常点、矿化点、含矿层、盖层高浓度的含氡断裂构造等局部辐射体。航放数据反演方法亟待发展与创新。文章详细介绍了一种适合盆地砂岩型铀矿勘查的航放数据反演方法—矩形反演方法,在航放异常筛选与查证、航放数据反演等方面作了许多探索,认为矩形反演方法较现行半无限反演方法能正确反演不同出露规模的辐射体,尤其是对具有找矿意义的局部辐射体的反演。研究提出了提取具固定半值点宽度峰形特征点作为砂岩型铀矿成矿有利信息的观点,并在巴音戈壁盆地塔木素地区取得较好应用效果。建议将矩形反演识别异常的标准以及信息提取技术进一步推广应用,以使航放测量更好地服务于我国砂岩型铀矿勘查。

碳酸盐岩溶洞成像宽度的地震物理模型分析

对不同尺度和不同填充物的2个溶洞物理模型进行了正演模拟和叠前偏移成像,分析了溶洞的成像宽度。研究表明,溶洞偏移响应水平道振幅曲线不同幅值下的成像宽度对溶洞真实宽度都比较敏感,且不同幅值成像宽度之间仅相差一个线性量。分析半幅值成像宽度与溶洞真实宽度之间的关系发现溶洞半幅值成像宽度对溶洞的真实宽度具有放大效应,其放大倍数随溶洞真实宽度增大迅速衰减直至趋于1;溶洞半幅值成像宽度不受溶洞反射系数的影响。为溶洞真实宽度估算提供了可靠的实验依据。

离散阵风幅值计算的方法研究

随机阵风幅值对于飞行器的结构设计和操作性能都是很重要的。针对随机阵风风速幅值的计算方法中存在着无法精确计算、用函数匹配曲线和基于统计经验置信度单一等问题,提出一种新的基于随机阵风频谱相关性直接解算离散阵风幅值并可任意指定幅值置信度的研究方法。给出随机阵风的频谱和离散模型,推导得出了随机阵风幅值的计算函数,并完成结果计算验证。结果表明:该计算方法能准确、方便地计算随机阵风的幅值大小,并可根据不同的性能指标需求指定幅值置信度的大小。

对干涉条纹宽度的再讨论

干涉条纹是光学中光强分布的周期性视觉上的具体体现,从数学上看此函数是连续性的周期函数,它有周期性的极值点,干涉条纹的宽度是一种视觉上的体现,所以条纹宽度的具体描述就应该是以极值点为中心的半值宽度值.由于描述的历史性原因,对条纹宽度用有效宽度表示将更为科学,本文从两点进行讨论.

利用后向散射光空间谱强度分布探测尾流气泡的实验研究

利用自行设计制作的尾流模拟系统产生气泡,应用散射光空间频谱测量分析系统,对水中气泡群的后向散射光空间谱强度分布进行测量和分析,研究了不同探测距离的散射光衰减对其强度分布的影响.结果表明,在气泡密度、大小分布不变的情况下,扩束光照明时,由于参与光散射的气泡数目增加对散射光在水中传播衰减的补偿,散射空间谱强度分布的峰值和半宽值均不随探测距离变化;而细光束照明时,散射谱强度分布峰值随探测距离的增加而减小,半宽值则逐渐增大.所以在远距离探测时,细光束的探测效果好.

高光谱传感器光谱性能参数反演与反射率恢复

在轨高光谱传感器光谱性能参数的准确定标是数据定量应用的基本前提。文章在前人基础上,综合优化算法,实现了在不需要实测地表反射率的情况下,同时反演高光谱传感器中心波长与半值波宽(fullwidth at half maximum,FWHM)。基于模拟数据的研究结果显示,该方法在光谱性能参数偏移5 nm时,中心波长反演误差小于0.1 nm,FWHM误差小于0.7 nm。将该方法应用于Hyperion数据,结果显示,Hype-rion在VNIR谱段存在明显的smile效应,在整个CCD阵列范围内,其中心波长的偏移量在-2~2 nm之间,FWHM偏移在-0.2~0.5 nm之间;在SWIR谱段smile效应不明显,其中心波长偏移3 nm左右,FWHM偏移在-2^-3 nm之间。最后在光谱重定标基础上,对Hyperion进行了大气校正,反演了不受大气及定标参数影响的地表反射率。经光谱重定标,在大气吸收波段周围由光谱定标参数变化导致的反射率突变得到了抑制。

发光二极管的特性研究

通过测量各发光二极管的正向伏安特性以及光谱特性,确定发光二极管的阈值电压和其禁带宽度所对应的电压。测量结果表明阈值电压与禁带宽度所对应电压不相等,对此作了理论分析。并通过测量高亮度和非高亮度发光二极管的发光强度角分布特性,确定两种发光二极管的半值角和视角。测量结果表明两种发光二极管的半值角皆小于20°,具有很好的指向性。

PbSe胶质纳米晶温度依赖的光谱特性研究

在研究中,制备了3.8和5.8nm两种尺寸的PbSe胶质纳米晶,并对PbSe胶质纳米晶温度依赖的光学特性进行了研究。实验数据表明:在室温情况下,随着温度和尺寸的变化,PbSe胶质纳米晶的禁带宽度、发光峰值波长、发光强度及全波半宽度等都会发生改变。在纳米晶尺寸是3.8nm时,PbSe胶质纳米晶的禁带宽度随温度升高产生红移;但是当尺寸是5.8nm时,禁带宽度随温度升高产生蓝移。随温度的升高,PbSe胶质纳米晶的发光强度将下降、全波半宽度会增加。

发光二极管基本物理特性测量及研究——介绍一个与节能有关的研究性物理实验

介绍一个与节能有关的研究性物理实验,该实验对发光二极管的基本物理特性进行了研究,可使学生深入理解发光二极管的发光原理、特性及其测量方法.

金激光等离子体带谱的精细结构分析

在自旋轨道劈裂阵 (spin orbit splitArray )模型下 ,计算得出激光金等离子体的Co like、Ni like、Cu like、Zn like、Ga like的 5 f - 3d、5 p - 3d、5s- 3p、4 f - 3d、4d - 3p、4 p - 3d的波长和半宽度 (FWHM ) ,并与实验测得的光谱数据相比较 ,结果比较一致。

体积全息图中的分叉与混沌现象

近年来,光学中的混沌现象越来越受到人们的重视,Gibbs、张洪均等人已观察到这类现象.然而,到目前为止,光学中的混沌还仅限于光电混合型的光学双稳态实验中以及对激光的某些分析中.我们用纯光学方法观察到了这类分叉过程.本文作者曾报导了关于反射式窄带全息滤光片的工作.这种滤光片实质上是一种体积全息图.正常情况下,按照耦合波理论,当白光入射时。

光纤LP_(01)模远场发散角与归一化频率关系的研究

根据折射率阶跃对称分布的光纤LP01模端面衍射远场的振幅分布,分析了衍射光束的半值全角宽度及振幅下降到1/e处对应的远场发散角全角各自随光纤归一化频率变化的关系;采用等效匹配效率法分析了远场发散角角半径,拟合出远场发散角角半径随归一化频率变化的函数表达式,并通过误差分析证明了拟合函数表达式的精确性.

沉积温度对ZnO薄膜波导的PLD生长影响的实验研究

采用PLD(脉冲激光沉积)技术在单晶硅(100)基片上制备出性能优良的ZnO薄膜,并通过XRD(X射线衍射仪)和SEM(扫描电镜)检测了其结晶情况,并分析了其沉积温度和结晶质量之间的相互关系,结果表明600℃时沉积的氧化锌薄膜材料的结晶性能最好。

法布里-珀罗干涉仪的干涉光强及其误差分析

在考虑到法—珀仪中腔的横向尺寸的限制时,干涉场应当是有限项多光束的相干叠加,当透射光束的数目相同时,随反射率ρ的增大,光强误差逐渐增大,干涉条纹的半值宽度也随之增宽,最大干涉光强与入射光强相比有所下降,但条纹可见度仍逐渐增大;而当反射率ρ值一定,透射光束的数目增大时,光强误差等各相应参数的变化与前面恰好相反,但条纹可见度不受影响,这是对多光束干涉场理论及实验数学内容的进一步拓展和完善.

重力波检测实验装置

介绍了作者研制的重力波检测实验装置的组成、功能和接口电路。该系统具有结构简单、检测准确率高等特点。

PbSe量子点光谱特性的时间与温度依赖性研究

由于量子点材料特殊的能级结构以及尺寸依赖特性,使其既可以用作宽光谱吸收材料和可调谐发光材料,又可以用于荧光探针。本文以有机法制成Pb Se量子点,并对其生长时间、生长温度依赖的光学特性进行了研究。试验数据表明,随着生长时间、生长温度和量子点尺寸的变化,Pb Se量子点的禁带宽度、发光峰值波长和全波半宽度均会发生改变;随着生长时间和生长温度的增加,发光峰值波长、全波半宽度和尺寸均会增加;随着生长温度的增加,禁带宽度减小并产生红移。

几十纳秒的荧光寿命的测定

利用光学多道分析仪(OMAⅢ)的选通功能,配合使 1302型快脉冲发生器,可以测 出大于100ns的荧光寿命,若荧光寿命可以与探测器门脉冲宽度(最小值为5ns)相比拟,测得荧光寿命与实际荧光寿命有很大出入,而且探测器的“延展效应”展宽了有效门脉冲宽度。本文提出一种方法解决了此问题。 利用OMAⅢ的内插板1303型脉冲发生器的递增延时功能,可以探测到光脉冲随时间变化的三维光谱图(图略),光谱的峰值包络线与时间亡的函数关系为F(t)。

铁乳胶室中强子与γ的分辨

目前铁乳胶室实验中采用簇射起始点深度Δt≥6.0 c.u.(cascade unit)来区分强子与γ。这种方法的不足之处是大量的强子混入了γ中。本文利用中日合作西藏甘巴拉山铁乳室实验数据,尝试了用簇射起始点深度Δt和级联曲线的半宽度(FWHM)联合对强子与γ进行判选。

光谱宽度

对于SLD而言，其光谱宽度可以是3dB带宽，也就是FWHM（半高全宽，光谱峰值一半的两点间的波长距离，见下图）。

两片掺铒玻璃样品级联荧光光谱的实验研究

介绍一种掺铒玻璃样品的制作方法 ,实验测量了单片及两片掺铒玻璃样品的荧光特性 .结果表明 :两片掺铒玻璃样品级联的荧光强度比单片掺铒玻璃样品的荧光强度高 ,半值宽度与高浓度单片样品的半值宽度近似相等 ;在两片掺铒玻璃样品级联的形式中 ,浓度高的样品靠近抽运光源时的荧光强度比浓度低的样品靠近抽运光源时的荧光强度高 ;两种低浓度样品组合的荧光强度相对于其单片样品荧光强度的增幅比两种高浓度样品组合的荧光强度相对于其单片样品荧光强度的增幅要高 .