半导体测试仪器故障诊断技术研究

对半导体测试仪器故障诊断方法学和故障定位实用方法进行了初步研究。故障诊断是模式分类和识别结合维修经验的一种重复过程。在简述常用的诊断方法和故障定位技术基础上,用实例探讨了在半导体测试仪器维护实践中运用诊断理论的技巧。

TI射频技术:RFID行业的革新者——访德州仪器半导体技术(上海)有限公司市场销售总监林志钦

美国德州仪器公司(Texas Inst ruments,简称TI)成立于1930年,总部位于美国德克萨斯州的达拉斯,是一家全球性的高科技公司,是数字信号处理及模拟产品的全球领导者(世界第一片集成电路就由该公司发明).德州仪器的产品及服务范围包括半导体、数字光源、传感器和控制产品以及教育产品等,在全球36个国家设有工厂、公司或办事处.1991年创立TIRIS(美国德州仪器注册和识别系统),2001年1月正式更名为无线射频识别系统(TI-RFidTM).TI作为一家跨国的半导体公司,是最早进行开发和销售射频识别产品的企业.

氮化铝陶瓷

半导体仪器在各个领域得到了广泛应用,但制造半导体仪器所需要的高温导热材料仍然是一个迫切需 要解决的问题,以AIN为基质的陶瓷,使用各种活性添加剂,对陶瓷性能有显著影响,以Y2O3为添加剂的AIN 陶瓷具有良好导热性与电物理性能。