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基于FPGA的半导体分立器件分选机控制系统计
1
作者
卜小帷
詹惠琴
《电子质量》
2010年第8期18-20,共3页
介绍了批量生产流程中半导体分立元件测试系统的结构组成,以及半导体分立元件分选机的基本工作方式,在此基础之上研究并设计了接口信号可随意设定的分选机控制系统。该系统具有较强的适用性,可以应用于各种不同种类的半导体分立元件分选...
介绍了批量生产流程中半导体分立元件测试系统的结构组成,以及半导体分立元件分选机的基本工作方式,在此基础之上研究并设计了接口信号可随意设定的分选机控制系统。该系统具有较强的适用性,可以应用于各种不同种类的半导体分立元件分选机;同时该系统还具有一定的功能扩展性。实验表明该分选机控制系统可以适用于不同类型分选机,通信质量有效可靠,达到预期设计目的。
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关键词
半导体分立元件测试
半导体
分立元件
分选机
现场可编程逻辑阵列
VERILOG硬件描述语言
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职称材料
题名
基于FPGA的半导体分立器件分选机控制系统计
1
作者
卜小帷
詹惠琴
机构
电子科技大学自动化学院
出处
《电子质量》
2010年第8期18-20,共3页
文摘
介绍了批量生产流程中半导体分立元件测试系统的结构组成,以及半导体分立元件分选机的基本工作方式,在此基础之上研究并设计了接口信号可随意设定的分选机控制系统。该系统具有较强的适用性,可以应用于各种不同种类的半导体分立元件分选机;同时该系统还具有一定的功能扩展性。实验表明该分选机控制系统可以适用于不同类型分选机,通信质量有效可靠,达到预期设计目的。
关键词
半导体分立元件测试
半导体
分立元件
分选机
现场可编程逻辑阵列
VERILOG硬件描述语言
Keywords
Integrate circuit testing
IC selecting machine
FPGA
Verilog HDL
分类号
TP273 [自动化与计算机技术—检测技术与自动化装置]
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作者
出处
发文年
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1
基于FPGA的半导体分立器件分选机控制系统计
卜小帷
詹惠琴
《电子质量》
2010
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