网络化的半导体激光器自动测试系统的设计

基于GPIB (General Purpose Interface Bus) 总线技术, 构建了一种新型的半导体激光器参数自动测试系统, 可以对半导体激光器的各种特性提供快速和准确的测试。融入网络技术, 采用浏览器/服务器(browser/server) 模式的数据库体系实现了远程数据查询和处理, 从而充分利用丰富的网络资源实现资源共享。实践表明该系统具有通用化、自动化的特点, 操作界面友好, 性价比高, 可靠性高, 扩展性强, 便于实行标准化以及组织规模化的生产。

功率半导体器件直流参数测试系统的研发

背景 介绍功率半导体器件应用非常广泛,是各种电子系统及仪器的基础,通常包括功率二极管、三极管、MOS场效应管、结型场效应管、可控硅等。目前,功率半导体器件应用单位涉及航天、航空、高等院校、电子研究所等诸多部门。其制造工艺及其设计水平较原来普通器件在功率上有了很大的提高,

功率半导体器件直流参数测试系统的研发

背景介绍 功率半导体器件应用非常广泛，是各种电子系统及仪器的基础，通常包括功率二极管、三极管、MOS场效应管、结型场效应管、可控硅等。目前，功率半导体器件应用单位涉及航天、航空、高等院校、电子研究所等诸多部门。

半导体分立器件测试系统研制

半导体分立器件测试系统是提升半导体分立器件测试和封装企业自动化水平的一种重要的检测设备。介绍了一种基于ARM微处理器S3C44B0X的半导体分立器件测试系统。在分析了测试系统的测试原理和半导体分立器件待测参数后,概括介绍了测试系统的软硬件设计。

AMD选用吉时利S680型半导体参数测试系统

吉时利仪器公司日前宣布，美国AMD公司选用吉时利(Keithley)公司S680型直流／射频(DC/RF)半导体参数自动测试系统，以支持位于德国的300mm Fab 36的先进逻辑芯片的全部生产。S680 DC/RF系统的优点包括先进的测量能力、较低的保有成本、很高的产量以及强有力的本地服务和技术支持。

德国AMD德国FAB 36公司选用吉时利（Keithley）公司制造的S680型半导体参数测试系统

吉时利仪器公司是为不断增长的测量需求提供解决方案的领导者，近日发布了美国AMD公司选用吉时利（Keithley）公司S680型直流／射频（DC／RF）半导体参数自动测试系统，以支持AMD公司位于德国德累斯顿市技术发展水平最高的300mm Fab 36公司的先进逻辑芯片的全部生产。S680直流／射频（DC／RF）系统的优点包括先进的测量能力、较低的保有成本、很高的产量以及强有力的本地服务和技术支持。

吉时利推出S680DC／R半导体参数测试系统

吉时利仪器公司日前宣布推出S600系列的最新产品S680DC／R半导体参数测试系统。全新的SimulTest并行测试软件可以在一次探针接触中对多达9个器件进行同步测量，使用这个软件该系统可以在200毫米芯片的测试时间内完成对300毫米的芯片工艺进行测试。为了使并行程序设计更加简便。

AMD德国FAB 36选用吉时利（Keithley）S680型半导体参数测试系统

吉时利仪器公司今日发布了美国AMD公司选用吉时利(Keithley）公司S680型直流/射频（DC/RF）半导体参数自动测试系统，以支持AMD公司位于德国德累斯顿市技术发展水平最高的300mm Fab 36的先进逻辑芯片的全部生产。S680直流/射频（DC/RF）系统的优点包括先进的测量能力、较低的保有成本、很高的产量以及强有力的本地服务和技术支持。

泰克推出Keithley S540功率半导体测试系统

全自动高速晶圆级参数测试解决方案面向最新的功率半导体器件,包括高达3kV的SiC和GaN2016年10月27日,泰克科技公司日前推出Keithley S540功率半导体测试系统,这是为高达3kV的功率半导体器件和结构提供的一种全自动48针参数测试系统。全集成S540是为用于最新复合功率半导体材料而优化的,包括金刚砂（SiC）和氮化镓（GaN）,可以在一个探头接入中执行所有高压测试、低压测试和电容测试。

基于GCS通用控制系统的屏蔽门门机运动参数自动化测试系统

以通用控制系统为基础平台,设计了一套屏蔽门门机运动参数自动化测试系统,实现运动参数的自动化测试,对传统运动过程测试方法进行改进和创新,解决了测试方法难题,提高了测试效率。

NI STS增强RF测量功能,进一步降低半导体测试成本

NI公司宣布为半导体测试系统（STS）增加了全新的RF功能，使其可提供更高的收发功率、以及基于FPGA的实时包络跟踪（Envelop Tracking）和数字预失真处理（Digital Pre-Dis-tortion）。

泰克推出Keithley S540功率半导体测试系统

2016年10月27日，泰克科技公司日前推出Keithley S540功率半导体测试系统，这是为高达3kV的功率半导体器件和结构提供的一种全自动48针参数测试系统。全集成S540是为用于最新复合功率半导体材料而优化的，包括金刚砂（SiC）和氮化镓（GaN），可以在一个探头接人中执行所有高压测试、低压测试和电容测试。

吉时利发布新型半导体集成测试系统

美国吉时利（Keithley）仪器公司日前发布ACS自动特征分析套件集成测试系统。该测试系统实现器件级、圆片级和黑盒级半导体特征分析工作。包括ACS集成测试系统在内，吉时利已在半导体特征分析领域成功建立整套高度可配置的灵活测试系统，并通过功能强大的自动化软件为用户提供无可比拟的测量性能。ACS测试系统通过统一软件套件，提供更快测量速度和更大系统灵活性。以满足用户独特的测试应用需求。

基于LabVIEW的电力半导体器件浪涌测试系统

浪涌电流试验是二极管及晶闸管等相关电力半导体器件测试的重要检测。本文基于LabVIEW平台通过程序设计实现浪涌测试自动化。

中艺：致力于半导体自动化生产设备的设计、研发和制造

上海中艺自动化系统有限公司成立于2001年，主要从事半导体自动化生产设备的设计、研发、制造、销售和客户服务，该公司特别在集成电路机械设备的研制上积累了相当丰富的经验，为中国集成电路测试企业争强测试质量、提高生产效率作出了贡献。至2011年底，该公司在国内装机量达1，500多台，产品遍及国内各主要封装厂家，在业界得到广泛认可和享有很高的知名度。

吉时利发布65nm以下半导体可靠性测试系统

吉时利（Keithley）仪器公司日前发布了新的S510半导体可靠性测试系统。此系统是高通道测量的完整方案，用于65nm节点及更小尺寸的ULSICMOS过程工艺的可靠性测试和寿命。它提供了晶圆级可靠性（WLR）测试的高吞吐速率和高度的灵活性。减少评估可靠性和完成寿命建模的时间，从而减少项目的技术研发和工艺过程开发的耗时，缩短产品进入市场的时间。S510系统也可用于产品生产的WLR监测或作为实验室的参数测试系统。

阻变存储阵列的自动化测试系统

阻变存储器(RRAM)是一种新型的不挥发存储技术,研究阻变存储器阵列规模的存储性能以及可靠性问题是推进RRAM实用化的关键。目前通用的基于微控探针台的半导体参数分析的常规测量系统无法完成对阵列的自动化测试。利用半导体参数分析仪(4200-SCS)、开关矩阵以及相关外围电路搭建了一套针对阻变存储阵列的自动测试系统,实现了1Mbit RRAM芯片的初始阻态分布的读取、初始化测试、存储单元的自动化编程/擦除操作。测试结果表明,该测试系统可以实现阻变存储阵列的自动化测试,为进一步工艺参数和编程算法的优化设计奠定基础。

新型VLSI直流参数自动测试系统

文中基于测试器件AD5520和测量放大器AD524,设计并实现超大规模集成电路直流参数自动测试系统,该系统具有结构紧凑,编程灵活等特点。实际应用表明,该系统自动化程度高,测试精度高,可靠性好。

CMOS图像传感器参数自动化测试软件设计与实现

针对光学遥感系统图像传感器性能评估需求,搭建了一套图像传感器参数测试系统;测试系统中的参数自动化测试软件对图像传感器的图像数据进行实时采集、存储和显示;对图像传感器的主要性能参数进行实时计算分析,对测试结果实时显示存储;该测试软件在DALSA公司Sapera LT软件开发包的基础上,利用VC++进行二次开发,实现了参数测试的自动化;根据测试结果,验证了测试方法的正确性;软件设计过程中注意了模块化、规范化设计,所以软件的移植性较好,具有良好的应用前景。

Python语言在自动化测试系统中的应用

自动化测试系统在敏捷开发、持续集成和持续交付中起着非常重要的作用。它对加快新功能发布,缩短现场问题解决时间,提升用户感受度,乃至提高企业竞争力都至关重要。本文结合笔者在自动化测试系统建设中的实践,具体描述了利用Python语言设计完成的基于机器人框架,关键字驱动的案例。最后指出了这套系统进一步改进的方向。