智能型半导体器件测试系统的抗干扰措施

针对智能型半导体器件测试系统的主要干扰源作了详细的理论分析，并从硬件、软件两个方面介绍了一些提高整个系统可靠性的抗干扰措施。实际运行表明，这些抗干扰措施为该系统的可靠、稳定运行提供了有力的保证。

半导体器件测试系统脉冲电流校准装置及校准方法研究

本文对半导体器件测试系统的组成和工作原理进行了简单介绍,并对其脉冲电流校准的难点进行了分析。根据脉冲电流测试的工作原理,用9230A系列精密电流分流器和34411A型数字多用表组建了校准装置。通过9230A系列精密电流分流器将脉冲电流转化为脉冲电压,在34411A型数字多用表的直流电压测量功能下,用其内部电平触发功能,实现脉冲电压的精确测量,解决了半导体器件测试系统脉冲电流校准的难题。研究和实践表明,本校准装置简单可靠、方便实用、满足脉冲电流量值传递要求。

IGBT模块的测试

详细介绍了IGBT模块测试参数的定义、分类,以及各项参数的测试原理、典型电路、测试条件选择和注意事项,对部分参数的特点进行了简单分析。最后,列举了市场上现有的部分IGBT模块的对比测试结果,简要分析了不同品牌IGBT模块的特性差异,尤其是栅极电阻、通态压降和开关损耗等方面的差异,为用好IGBT器件提供参考,并为进一步扩大IGBT器件的应用领域提供选型依据。