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智能型半导体器件测试系统的抗干扰措施
1
作者
焦阳
李雪莉
《河北科技大学学报》
CAS
2000年第2期64-66,共3页
针对智能型半导体器件测试系统的主要干扰源作了详细的理论分析,并从硬件、软件两个方面介绍了一些提高整个系统可靠性的抗干扰措施。实际运行表明,这些抗干扰措施为该系统的可靠、稳定运行提供了有力的保证。
关键词
微机控制
系统
抗干扰
半导体器件测试系统
下载PDF
职称材料
题名
智能型半导体器件测试系统的抗干扰措施
1
作者
焦阳
李雪莉
机构
河北科技大学信息工程学院
石家庄市高新技术开发区热电煤气公司
出处
《河北科技大学学报》
CAS
2000年第2期64-66,共3页
文摘
针对智能型半导体器件测试系统的主要干扰源作了详细的理论分析,并从硬件、软件两个方面介绍了一些提高整个系统可靠性的抗干扰措施。实际运行表明,这些抗干扰措施为该系统的可靠、稳定运行提供了有力的保证。
关键词
微机控制
系统
抗干扰
半导体器件测试系统
Keywords
microcomputer controlling system
anti-interference
reliability
分类号
TP273 [自动化与计算机技术—检测技术与自动化装置]
TP202 [自动化与计算机技术—检测技术与自动化装置]
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题名
作者
出处
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1
智能型半导体器件测试系统的抗干扰措施
焦阳
李雪莉
《河北科技大学学报》
CAS
2000
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