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半导体测试仪器故障诊断技术研究
被引量:
1
1
作者
何林
蔡明理
《微电子学》
CAS
CSCD
北大核心
2014年第3期395-397,412,共4页
对半导体测试仪器故障诊断方法学和故障定位实用方法进行了初步研究。故障诊断是模式分类和识别结合维修经验的一种重复过程。在简述常用的诊断方法和故障定位技术基础上,用实例探讨了在半导体测试仪器维护实践中运用诊断理论的技巧。
关键词
半导体测试仪器
故障诊断
模式识别
下载PDF
职称材料
题名
半导体测试仪器故障诊断技术研究
被引量:
1
1
作者
何林
蔡明理
机构
中国电子科技集团公司第二十四研究所
出处
《微电子学》
CAS
CSCD
北大核心
2014年第3期395-397,412,共4页
文摘
对半导体测试仪器故障诊断方法学和故障定位实用方法进行了初步研究。故障诊断是模式分类和识别结合维修经验的一种重复过程。在简述常用的诊断方法和故障定位技术基础上,用实例探讨了在半导体测试仪器维护实践中运用诊断理论的技巧。
关键词
半导体测试仪器
故障诊断
模式识别
Keywords
Semiconductor test instrument
Fault diagnosis
Patten recognition
分类号
TN407 [电子电信—微电子学与固体电子学]
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作者
出处
发文年
被引量
操作
1
半导体测试仪器故障诊断技术研究
何林
蔡明理
《微电子学》
CAS
CSCD
北大核心
2014
1
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