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数字孪生在半导体测试设备中的实践 |
祁建华
马诗旻
何桂玲
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《电子技术应用》
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2024 |
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笑看风云,泰瑞达畅谈半导体测试设备市场趋势——专访泰瑞达精密设备有限公司 中国及南亚区总裁 蒋福宇 先生 |
丁力
刘林发
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《集成电路应用》
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2003 |
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利用半导体自动测试设备测定负载板继电器性能 |
邢轶斌
徐海滨
康永
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《中国金属通报》
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2019 |
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美国开放半导体ATE设备销往大陆 |
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《集成电路应用》
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2004 |
0 |
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多探针自动测试台的技术改造 |
吴小燕
柏正香
欧昌银
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《微电子学》
CAS
CSCD
北大核心
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2006 |
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专注测试科技创新 缔造长远顾客价值 |
陈志忠
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《中国集成电路》
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2003 |
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RF芯片测试技术研究 |
余琨
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《中国集成电路》
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2015 |
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快速创新 创优服务——访德律泰电子(苏州)有限公司总经理林江淮先生 |
卢光
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《半导体技术》
CAS
CSCD
北大核心
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2003 |
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NPTest近况与发展——访恩浦科技股份有限公司(NPTest)副总裁暨总经理朱陵生 |
刘林发
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《集成电路应用》
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2003 |
0 |
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