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数字孪生在半导体测试设备中的实践
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作者 祁建华 马诗旻 何桂玲 《电子技术应用》 2024年第9期25-30,共6页
数字孪生作为智能制造关键技术在工厂极具实用价值。通过在半导体测试服务公司建立数字孪生系统,收集了探针台二十多万条报警数据。结果显示,超过90%的报警已通过数字孪生系统实现了远程控制解决。为探索报警处理的最佳方式,进一步优化... 数字孪生作为智能制造关键技术在工厂极具实用价值。通过在半导体测试服务公司建立数字孪生系统,收集了探针台二十多万条报警数据。结果显示,超过90%的报警已通过数字孪生系统实现了远程控制解决。为探索报警处理的最佳方式,进一步优化数字孪生模型,并在模型中重现报警,通过模拟不同工况,与传统方式相比,人工操作数字孪生系统处理报警可使设备等待时间减少64%以上。若采用AI后台自行操作数字孪生系统,设备等待时间可继续降低78%。这表明人工对设备报警的反应时间是影响设备等待时间的关键因素,因此,深化使用数字孪生模型自动化处理报警可显著降低设备等待时间,提升设备综合利用率。 展开更多
关键词 数字孪生 半导体测试设备 远程控制 报警处理 自动化
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笑看风云,泰瑞达畅谈半导体测试设备市场趋势——专访泰瑞达精密设备有限公司 中国及南亚区总裁 蒋福宇 先生
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作者 丁力 刘林发 《集成电路应用》 2003年第3期57-59,共3页
匆匆一年又一年,2001年全球半导体市场低迷不振,早已成为过去,当大家满怀希望期待着2002年时,情况却比2001年更糟。据SBN评2002年半导体10大新闻称,'晶片设备行业:辛苦倍增,却一无所获。'
关键词 半导体测试设备 市场趋势 泰瑞达公司 人物采访 蒋福宁
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利用半导体自动测试设备测定负载板继电器性能 被引量:1
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作者 邢轶斌 徐海滨 康永 《中国金属通报》 2019年第8期191-192,共2页
本文对半导体自动测试设备的相关概念做出了简要的阐释,并论述了负载板继电器的性能和特点,并在现有的对半导体自动测试设备及负载板和继电器的研究的基础上,提出了全新的有关半导体自动测试设备测定过程的设计理念。利用半导体自动测... 本文对半导体自动测试设备的相关概念做出了简要的阐释,并论述了负载板继电器的性能和特点,并在现有的对半导体自动测试设备及负载板和继电器的研究的基础上,提出了全新的有关半导体自动测试设备测定过程的设计理念。利用半导体自动测试设备,设计出的测试负载版电路及测试程序界面对各类继电器均有一定的适应性,通过编写一定的测试程序来对负载板开关继电器的反应时间、工作功率、温度等相关参数进行实验和测试。 展开更多
关键词 半导体自动测试设备 负载板继电器性能
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美国开放半导体ATE设备销往大陆
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《集成电路应用》 2004年第4期64-64,共1页
美国政府打算放宽美国半导体自动化测试设备(ATE)销往大陆的重重管制。据了解,现行外销大陆的ATE设备管制措施,美国ATE设备商必须先向美国政府申请获得执照许可,方可外销大陆。分析师指出,美国政府目前规定,只要是ATE设备的样式产生速... 美国政府打算放宽美国半导体自动化测试设备(ATE)销往大陆的重重管制。据了解,现行外销大陆的ATE设备管制措施,美国ATE设备商必须先向美国政府申请获得执照许可,方可外销大陆。分析师指出,美国政府目前规定,只要是ATE设备的样式产生速率超过333MHZ, 展开更多
关键词 美国 半导体自动化测试设备 管制措施 中国
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多探针自动测试台的技术改造 被引量:1
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作者 吴小燕 柏正香 欧昌银 《微电子学》 CAS CSCD 北大核心 2006年第6期842-844,共3页
介绍了将测试75 mm圆片的多探针自动测试台改造为测试100 mm圆片的多探针测试台。在原设备的基础上,重新设计加工X轴和Y轴的丝杆和导轨及承片台,控制由TP801单板机改为80C32单片机,数码管显示改为彩色液晶屏显示。改造后的探针测试台只... 介绍了将测试75 mm圆片的多探针自动测试台改造为测试100 mm圆片的多探针测试台。在原设备的基础上,重新设计加工X轴和Y轴的丝杆和导轨及承片台,控制由TP801单板机改为80C32单片机,数码管显示改为彩色液晶屏显示。改造后的探针测试台只需一次对片就能测完100 mm圆片,且控制稳定,功能更加完善,使用更为方便。 展开更多
关键词 半导体测试设备 探针测试 单片机控制
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专注测试科技创新 缔造长远顾客价值
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作者 陈志忠 《中国集成电路》 2003年第52期39-40,共2页
全球半导体元件市场主要可区分为两个部分:性能驱动市场(per-formance drivenmarket)及成本驱动市场(costdriven market)。在性能驱动市场,业界主要是提升产品的效能,因为很可能在一段时间之后产品将因性能不足而遭淘汰。例如运行速度... 全球半导体元件市场主要可区分为两个部分:性能驱动市场(per-formance drivenmarket)及成本驱动市场(costdriven market)。在性能驱动市场,业界主要是提升产品的效能,因为很可能在一段时间之后产品将因性能不足而遭淘汰。例如运行速度上的提升、推动功率的范围扩大、节电率及存储容量的增加等。此类市场中典型的例子包括微处理器、绘图芯片、芯片组与存储器等。而由于电子装置的轻、薄、短、小已成为必然的趋势,单芯片系统(system-on-chip,SoC)亦是集成电路设计业瞩目的焦点,必须不断地在电子自动化设计工具(EDA Tools)上。 展开更多
关键词 德律泰电子公司 半导体测试设备 成本驱动市场 集成电路 TR-6800型 TR-6010 TR-6020 TR-6050
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RF芯片测试技术研究
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作者 余琨 《中国集成电路》 2015年第3期41-46,55,共7页
本论文主要介绍了当前RF芯片及其测试挑战,讲述了应用于无线通信系统和高数据速率交换装置芯片的测试环境开发,研究了RF芯片测试关键技术,包括测试软件开发技术及测试硬件设计技术。然后介绍了如何利用半导体自动测试设备(ATE)对RF芯片... 本论文主要介绍了当前RF芯片及其测试挑战,讲述了应用于无线通信系统和高数据速率交换装置芯片的测试环境开发,研究了RF芯片测试关键技术,包括测试软件开发技术及测试硬件设计技术。然后介绍了如何利用半导体自动测试设备(ATE)对RF芯片关键参数进行测试,实现RF芯片自动测试方法的创新。通过本论文的研究,可以为RF芯片提供相应的测试解决方案。 展开更多
关键词 RF芯片 测试技术 半导体自动测试设备 增益 相位噪声
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快速创新 创优服务——访德律泰电子(苏州)有限公司总经理林江淮先生
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作者 卢光 《半导体技术》 CAS CSCD 北大核心 2003年第6期5-6,共2页
在“非典”曼延之际,我们采访了德律泰的林江淮总经理,目睹了正在繁忙紧张工作的场面,就德律泰科技及其在大陆的业务情况进行了采访。
关键词 德律泰电子有限公司 苏州市 林江淮 人物采访 半导体测试设备
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NPTest近况与发展——访恩浦科技股份有限公司(NPTest)副总裁暨总经理朱陵生
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作者 刘林发 《集成电路应用》 2003年第10期76-77,共2页
采访背景:全球石油、智能卡、半导体测试领域领导厂商Schlumberger于今年6月24日宣布分离其子公司NPTest给Francisco Partners公司,NPTest独立成为提供IC证、失效分析、性能测试和服务的专业厂商,其上海代表处已于7月份乔迁至上海张江... 采访背景:全球石油、智能卡、半导体测试领域领导厂商Schlumberger于今年6月24日宣布分离其子公司NPTest给Francisco Partners公司,NPTest独立成为提供IC证、失效分析、性能测试和服务的专业厂商,其上海代表处已于7月份乔迁至上海张江高科技园区。作为全球半导体专业测试设备领域最高端市场的领导者,NPTest有没有发生一些新的变动、变动情况如何、将来会朝什么新的方向发展?带着上述问题,笔者有幸采访了该公司负责人朱陵生先生。 展开更多
关键词 恩浦科技股份有限公司 朱陵生 人物访谈 半导体市场 半导体测试设备
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