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题名硫化矿浸出过程的半导体-溶液界面分析
被引量:3
- 1
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作者
李宏煦
王淀佐
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机构
北京有色金属研究总院
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出处
《有色金属》
CSCD
2004年第2期77-80,共4页
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基金
国家自然科学基金资助项目 ( 5 0 2 0 40 0 1)
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文摘
硫化矿氧化浸出过程实际是半导体 -溶液界面电子或空穴转移的过程 ,基于传统半导体界面氧化理论 ,根据硫化矿半导体表面能级与溶液氧化还原对的关系 ,系统分析硫化矿 -溶液界面电子或空穴转移步骤 ,揭示了硫化矿在氧化溶液介质中的氧化浸出机理。
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关键词
冶金物理化学
硫化矿
半导体溶液界面
浸出
氧化机理
电化学
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Keywords
physical chemistry of process metallurgy
sulfide
semiconductor/solution interface
leaching
oxidation mechanism
electrochemistry
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分类号
TF111.31
[冶金工程—冶金物理化学]
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题名硫化矿细菌浸出的半导体能带理论分析
被引量:10
- 2
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作者
李宏煦
王淀佐
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机构
北京有色金属研究总院
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出处
《有色金属》
CSCD
2004年第3期35-37,48,共4页
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基金
国家自然科学基金资助项目 ( 5 0 2 0 40 0 1)
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文摘
许多硫化矿物为半导体 ,硫化矿氧化浸出过程实际是一半导体 溶液界面电子或空穴转移的过程。基于传统的半导体界面氧化理论 ,系统分析细菌存在时硫化矿 溶液界面电子或空穴转移步骤 ,提出黄铁矿、黄铜矿、铜兰细菌浸出过程的半导体 溶液界面电子及空穴转移模型 。
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关键词
硫化矿
细菌浸出
氧化机理
电化学
半导体溶液界面
能带理论
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Keywords
physical chemistry of process metallurgy
sulfide
semiconductor/solution interface
leaching
oxidation mechanism
electrochemistry
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分类号
TF111.31
[冶金工程—冶金物理化学]
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