激光半焦斑边缘检出技术研究

本文介绍了一种新的边缘定位方法激光半焦斑边缘检出法。这种方法综合运用了多种技术，如自适应跟踪补偿技术、激光调制和调制幅值补偿技术、微分定点采样技术以及步进电机步距细分技术等，从而达到了较高的边缘检出精度。文章还给出了激光半焦斑边缘检出的理论模型和计算机仿真结果，并介绍了一个采用激光半焦斑边缘检出技术的测径系统。

激光半焦斑边缘检出法测径系统

在分析传统半光强法的基础上 ,通过计算机仿真提出了激光半焦斑边缘检出法 ,介绍了一种采用激光半焦斑边缘检出法的光电测径系统及其相关的技术要点。分析并修正了系统误差 ,从而实现了对不同材料、不同加工方法和不同表面处理工件的精密测量。系统的设计量程为 10 0mm ,边缘检出灵敏度为 0 32μm ,测量不确定度为 2σ≤ 3μm。

激光扫描边缘检出技术的研究

激光扫描边缘检出技术的研究吕海宝谌廷政黄锐楚兴春周卫红（国防科技大学机械电子工程与仪器系长沙４１００７３）利用半光强点进行边缘检出的方法有峰（谷）值检出法、过零检出法和激光半焦斑边缘检出法，等等。但是，除了近年来开发的激光半焦斑边缘检出法外，其他几种...

用于大尺寸工件的新型光学测径系统

针对大工件加工领域工件的外径准确测量难题,提出了应用激光半焦斑边缘检测技术与激光测距技术相结合的创新测量方法,实现快速,准确,自动测量大工件的目的。