X-射线荧光光谱法快速测定半钢发热剂中Si,P,S

目前，国内没有关于半钢发热剂的国家标准检测方法，只能根据组分范围分别检测各个组分，不仅耗时而且使用的大量化学试剂对环境造成污染。故研究了X-射线荧光光谱法快速测定半钢发热剂中Si，P，S的方法。采用粉末压片制样，研究其制样条件，包括磨样时间、压样时间和压力对测定结果的影响。采用其它方法定值提供的检测样品，作为x-射线荧光光谱法内控标准样品，采用经验系数法进行基体校正，通过解谱拟合建立校准曲线，校准曲线建立后仪器建立漂移校正程序。实验结果精密度好，各元素的相对标准偏差在0．15％-1．3％。准确度满足生产需求，实验方法可用于快速检测半钢发热剂化学组分。