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单芯片封装与多芯片封装展望 被引量:1
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作者 张光远 《电子与封装》 2001年第1期11-15,共5页
综述了近几年国内、外在单芯片封装和多芯片封装方面的概况和发展趋势,提出了今后几年我们在封装领域技术研究的建议。
关键词 微电子封装 芯片封装 多芯片封装 高密度封装 管壳系统封装 三维封装 多芯片模块
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SOP技术的优势以及在射频领域的应用 被引量:1
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作者 张欣欣 王鲁豫 《实验科学与技术》 2007年第1期140-144,共5页
通过对单芯片系统(SOC)、多芯片组件(MCM)、封装内的系统(SIP)和单封装系统(SOP)几种重要封装技术的分析比较,展示了SOP技术的显著优势,其优势使之更加适用于未来电子系统的发展。SOP在射频领域已有比较成功的应用,文中同时介绍了几种... 通过对单芯片系统(SOC)、多芯片组件(MCM)、封装内的系统(SIP)和单封装系统(SOP)几种重要封装技术的分析比较,展示了SOP技术的显著优势,其优势使之更加适用于未来电子系统的发展。SOP在射频领域已有比较成功的应用,文中同时介绍了几种典型的射频SOP(RF-SOP)结构。 展开更多
关键词 芯片系统 多芯片组件 封装内的系统 单封装系统 射频SOP
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瑞萨推出驱动器与MOSFET晶体管集成在一起的SiP
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《电子测试(新电子)》 2004年第6期99-99,共1页
关键词 瑞萨科技公司 驱动器 MOSFET晶体管 SIP 单封装系统
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应对3DIC测试挑战的ATE解决方案Advantest V93000准备就绪
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作者 Scott Chesnut Bob Smith 《电子工业专用设备》 2012年第10期34-39,63,共7页
三维集成电路(3DIC)的出现需要具备自动测试设备开发能力才能解决这些结构带来的挑战。在符合以下条件的解决方案中找到了这种能力:提供多时钟域、每个3DIC层粒状硬件移植、以及功能强大的测试语言来控制此硬件和协作软件开发环境;... 三维集成电路(3DIC)的出现需要具备自动测试设备开发能力才能解决这些结构带来的挑战。在符合以下条件的解决方案中找到了这种能力:提供多时钟域、每个3DIC层粒状硬件移植、以及功能强大的测试语言来控制此硬件和协作软件开发环境;在这种环境下,各层的测试开发团队可紧密合作.为迅速生产做好准备。Advantest引进了每个引脚时钟域、多端口硬件、并发测试框架、协议感知以及smar Test程序管理器,可有效解决3DIC的测试挑战。它们可使生产解决方案达到开发团队所需的粒度。 展开更多
关键词 三维集成电路/硅穿孔 单封装系统 自动测试设备
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