期刊导航
期刊开放获取
河南省图书馆
退出
期刊文献
+
任意字段
题名或关键词
题名
关键词
文摘
作者
第一作者
机构
刊名
分类号
参考文献
作者简介
基金资助
栏目信息
任意字段
题名或关键词
题名
关键词
文摘
作者
第一作者
机构
刊名
分类号
参考文献
作者简介
基金资助
栏目信息
检索
高级检索
期刊导航
共找到
4
篇文章
<
1
>
每页显示
20
50
100
已选择
0
条
导出题录
引用分析
参考文献
引证文献
统计分析
检索结果
已选文献
显示方式:
文摘
详细
列表
相关度排序
被引量排序
时效性排序
单芯片封装与多芯片封装展望
被引量:
1
1
作者
张光远
《电子与封装》
2001年第1期11-15,共5页
综述了近几年国内、外在单芯片封装和多芯片封装方面的概况和发展趋势,提出了今后几年我们在封装领域技术研究的建议。
关键词
微电子
封装
单
芯片
封装
多芯片
封装
高密度
封装
单
管壳
系统
封装
三维
封装
多芯片模块
下载PDF
职称材料
SOP技术的优势以及在射频领域的应用
被引量:
1
2
作者
张欣欣
王鲁豫
《实验科学与技术》
2007年第1期140-144,共5页
通过对单芯片系统(SOC)、多芯片组件(MCM)、封装内的系统(SIP)和单封装系统(SOP)几种重要封装技术的分析比较,展示了SOP技术的显著优势,其优势使之更加适用于未来电子系统的发展。SOP在射频领域已有比较成功的应用,文中同时介绍了几种...
通过对单芯片系统(SOC)、多芯片组件(MCM)、封装内的系统(SIP)和单封装系统(SOP)几种重要封装技术的分析比较,展示了SOP技术的显著优势,其优势使之更加适用于未来电子系统的发展。SOP在射频领域已有比较成功的应用,文中同时介绍了几种典型的射频SOP(RF-SOP)结构。
展开更多
关键词
单
芯片
系统
多芯片组件
封装
内的
系统
单封装系统
射频SOP
下载PDF
职称材料
瑞萨推出驱动器与MOSFET晶体管集成在一起的SiP
3
《电子测试(新电子)》
2004年第6期99-99,共1页
关键词
瑞萨科技公司
驱动器
MOSFET晶体管
SIP
单封装系统
下载PDF
职称材料
应对3DIC测试挑战的ATE解决方案Advantest V93000准备就绪
4
作者
Scott Chesnut Bob Smith
《电子工业专用设备》
2012年第10期34-39,63,共7页
三维集成电路(3DIC)的出现需要具备自动测试设备开发能力才能解决这些结构带来的挑战。在符合以下条件的解决方案中找到了这种能力:提供多时钟域、每个3DIC层粒状硬件移植、以及功能强大的测试语言来控制此硬件和协作软件开发环境;...
三维集成电路(3DIC)的出现需要具备自动测试设备开发能力才能解决这些结构带来的挑战。在符合以下条件的解决方案中找到了这种能力:提供多时钟域、每个3DIC层粒状硬件移植、以及功能强大的测试语言来控制此硬件和协作软件开发环境;在这种环境下,各层的测试开发团队可紧密合作.为迅速生产做好准备。Advantest引进了每个引脚时钟域、多端口硬件、并发测试框架、协议感知以及smar Test程序管理器,可有效解决3DIC的测试挑战。它们可使生产解决方案达到开发团队所需的粒度。
展开更多
关键词
三维集成电路/硅穿孔
单封装系统
自动测试设备
下载PDF
职称材料
题名
单芯片封装与多芯片封装展望
被引量:
1
1
作者
张光远
机构
无锡微电子科研中心第三研究室
出处
《电子与封装》
2001年第1期11-15,共5页
文摘
综述了近几年国内、外在单芯片封装和多芯片封装方面的概况和发展趋势,提出了今后几年我们在封装领域技术研究的建议。
关键词
微电子
封装
单
芯片
封装
多芯片
封装
高密度
封装
单
管壳
系统
封装
三维
封装
多芯片模块
分类号
TN305.94 [电子电信—物理电子学]
下载PDF
职称材料
题名
SOP技术的优势以及在射频领域的应用
被引量:
1
2
作者
张欣欣
王鲁豫
机构
电子科技大学电子薄膜与集成器件国家重点实验室
出处
《实验科学与技术》
2007年第1期140-144,共5页
文摘
通过对单芯片系统(SOC)、多芯片组件(MCM)、封装内的系统(SIP)和单封装系统(SOP)几种重要封装技术的分析比较,展示了SOP技术的显著优势,其优势使之更加适用于未来电子系统的发展。SOP在射频领域已有比较成功的应用,文中同时介绍了几种典型的射频SOP(RF-SOP)结构。
关键词
单
芯片
系统
多芯片组件
封装
内的
系统
单封装系统
射频SOP
Keywords
SOC
MCM
SIP
SOP
RF-SOP
分类号
TN43 [电子电信—微电子学与固体电子学]
下载PDF
职称材料
题名
瑞萨推出驱动器与MOSFET晶体管集成在一起的SiP
3
出处
《电子测试(新电子)》
2004年第6期99-99,共1页
关键词
瑞萨科技公司
驱动器
MOSFET晶体管
SIP
单封装系统
分类号
TN492 [电子电信—微电子学与固体电子学]
下载PDF
职称材料
题名
应对3DIC测试挑战的ATE解决方案Advantest V93000准备就绪
4
作者
Scott Chesnut Bob Smith
机构
Advantest America
出处
《电子工业专用设备》
2012年第10期34-39,63,共7页
文摘
三维集成电路(3DIC)的出现需要具备自动测试设备开发能力才能解决这些结构带来的挑战。在符合以下条件的解决方案中找到了这种能力:提供多时钟域、每个3DIC层粒状硬件移植、以及功能强大的测试语言来控制此硬件和协作软件开发环境;在这种环境下,各层的测试开发团队可紧密合作.为迅速生产做好准备。Advantest引进了每个引脚时钟域、多端口硬件、并发测试框架、协议感知以及smar Test程序管理器,可有效解决3DIC的测试挑战。它们可使生产解决方案达到开发团队所需的粒度。
关键词
三维集成电路/硅穿孔
单封装系统
自动测试设备
Keywords
3DIC/TSV
SiP
ATE
分类号
TN407 [电子电信—微电子学与固体电子学]
下载PDF
职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
单芯片封装与多芯片封装展望
张光远
《电子与封装》
2001
1
下载PDF
职称材料
2
SOP技术的优势以及在射频领域的应用
张欣欣
王鲁豫
《实验科学与技术》
2007
1
下载PDF
职称材料
3
瑞萨推出驱动器与MOSFET晶体管集成在一起的SiP
《电子测试(新电子)》
2004
0
下载PDF
职称材料
4
应对3DIC测试挑战的ATE解决方案Advantest V93000准备就绪
Scott Chesnut Bob Smith
《电子工业专用设备》
2012
0
下载PDF
职称材料
已选择
0
条
导出题录
引用分析
参考文献
引证文献
统计分析
检索结果
已选文献
上一页
1
下一页
到第
页
确定
用户登录
登录
IP登录
使用帮助
返回顶部