单帧长曝光法颗粒测速上限的影响因素

为了提高单帧长曝光图像法的颗粒速度测量的测速上限,以背光成像的单帧长曝光法测速装置为研究对象,从轨迹识别的角度,对该方法测速上限的影响因素进行了理论分析和实验研究。结果表明:在背光成像方式下,颗粒速度越高,轨迹灰度值越高,越难以识别;从轨迹可识别性的角度可知,影响因素主要包括颗粒直径、颗粒透射率和光源光强;当光源光强足够时,背光成像的单帧长曝光法测速装置对直径50μm不透光圆盘颗粒的测速上限为1250m/s。