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多芯片组件基板单探针测试路径的二次优化
1
作者
徐如清
董刚
+1 位作者
黄炜炜
杨银堂
《Journal of Semiconductors》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2007年第10期1652-1655,共4页
基于模拟退火算法给出了一种可用于MCM互连基板单探针测试的二次优化方法,即采用模拟退火算法对启发式算法获得的MCM互连基板单探针测试路径进行二次优化改进.模拟结果显示,所提方法与已有的启发式优化算法相比较,对单探针路径的优化最...
基于模拟退火算法给出了一种可用于MCM互连基板单探针测试的二次优化方法,即采用模拟退火算法对启发式算法获得的MCM互连基板单探针测试路径进行二次优化改进.模拟结果显示,所提方法与已有的启发式优化算法相比较,对单探针路径的优化最高可达90.2%,可以有效地降低多芯片组件互连基板单探针测试的成本.
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关键词
单探针测试
模拟退火算法
二次优化
下载PDF
职称材料
多芯片组件基板测试的新型组合算法(英文)
2
作者
徐如清
董刚
+1 位作者
黄炜炜
杨银堂
《电子器件》
CAS
2007年第6期2201-2204,共4页
提出了一种用于多芯片组件互连测试的单探针路径优化的新型组合算法.首先使用启发式算法求出待优化问题的初始解,然后使用模拟退火算法对结果进行改进.模拟实验验证了所提算法的有效性.
关键词
多芯片组件
单探针测试
启发式算法
模拟退火算法
下载PDF
职称材料
题名
多芯片组件基板单探针测试路径的二次优化
1
作者
徐如清
董刚
黄炜炜
杨银堂
机构
西安电子科技大学微电子所宽禁带半导体材料与器件教育部重点实验室
出处
《Journal of Semiconductors》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2007年第10期1652-1655,共4页
基金
国家自然科学基金资助项目(批准号:60606006)~~
文摘
基于模拟退火算法给出了一种可用于MCM互连基板单探针测试的二次优化方法,即采用模拟退火算法对启发式算法获得的MCM互连基板单探针测试路径进行二次优化改进.模拟结果显示,所提方法与已有的启发式优化算法相比较,对单探针路径的优化最高可达90.2%,可以有效地降低多芯片组件互连基板单探针测试的成本.
关键词
单探针测试
模拟退火算法
二次优化
Keywords
single probe test
simulated annealing algorithm
second optimization
分类号
TN407 [电子电信—微电子学与固体电子学]
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职称材料
题名
多芯片组件基板测试的新型组合算法(英文)
2
作者
徐如清
董刚
黄炜炜
杨银堂
机构
西安电子科技大学微电子所宽禁带半导体材料与器件教育部重点实验室
出处
《电子器件》
CAS
2007年第6期2201-2204,共4页
基金
国家自然科学基金资助(60606006)
文摘
提出了一种用于多芯片组件互连测试的单探针路径优化的新型组合算法.首先使用启发式算法求出待优化问题的初始解,然后使用模拟退火算法对结果进行改进.模拟实验验证了所提算法的有效性.
关键词
多芯片组件
单探针测试
启发式算法
模拟退火算法
Keywords
Multi-chip Module
single probe test
heuristic algorithm
simulated annealing algorithm
分类号
TN401 [电子电信—微电子学与固体电子学]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
多芯片组件基板单探针测试路径的二次优化
徐如清
董刚
黄炜炜
杨银堂
《Journal of Semiconductors》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2007
0
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职称材料
2
多芯片组件基板测试的新型组合算法(英文)
徐如清
董刚
黄炜炜
杨银堂
《电子器件》
CAS
2007
0
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职称材料
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