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高精度单斜率A/D及其单片机的实现
1
作者 许育林 《集成电路通讯》 2007年第4期47-50,共4页
本文介绍了一种利用普通单片机构成的采用类似于Σ-Δ技术的高精度的单斜率A/D。分析了电路测量过程和工作原理,提供了分辨率、精度、线性度、稳定性等性能的确定方法,并讨论了他们的影响因素和应用。
关键词 单斜率a/d 单片机 充放电
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