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低温下微波单晶材料电参数的快速测量 被引量:1
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作者 唐宗熙 罗正祥 张其劭 《电子科技大学学报》 EI CAS CSCD 北大核心 1994年第4期383-386,共4页
对谐振腔微扰法测试单晶电介质微波复介电常数进行了分析。采用研制的TE_(10n)。模矩形谐振腔,利用标量网络分析系统与微机联网,在液氮温度和常温下对电介质材料进行了实测,结果表明:该测试技术可对常用微波介质材料在不同... 对谐振腔微扰法测试单晶电介质微波复介电常数进行了分析。采用研制的TE_(10n)。模矩形谐振腔,利用标量网络分析系统与微机联网,在液氮温度和常温下对电介质材料进行了实测,结果表明:该测试技术可对常用微波介质材料在不同温度(如液氮、液氦及常温)下进行测试,且测试简便、迅速、自动化程度高,并且有测试材料某一方向复介电常数的优点。 展开更多
关键词 微扰法 单晶电介质 测量 微波材料
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