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题名紫外激光刻蚀单晶硅片工艺的试验研究
被引量:1
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作者
高永强
史兴隆
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机构
无锡科技职业学院
内蒙古工业大学
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出处
《应用激光》
CSCD
北大核心
2021年第5期974-978,共5页
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文摘
紫外激光刻蚀单晶硅片时,热传导作用和等离子热效应等多种作用机理共同决定刻蚀效果,热传导作用导致材料的熔化和气化,等离子体热效应导致材料破碎和抛出。从理论上分析各种作用机理中相关工艺参数的作用,并针对不同的工艺参数进行测试,综合分析各个工艺参数在刻蚀过程中对刻蚀质量的影响,在此基础上,为寻找最优刻蚀工艺参数和最佳刻蚀效果提供指导原则,通过试验验证指导原则的合理性,并得到刻蚀硅片的最优刻蚀工艺参数。试验可知,单个激光脉冲的功率密度和频率对槽深和槽宽影响最大,单个激光脉冲的功率密度和扫描速度对槽的成形质量影响最大。
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关键词
紫外激光
单晶硅硅片
刻蚀
工艺参数
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Keywords
UV laser
monocrystalline silicon
etching
process parameters
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分类号
TN249
[电子电信—物理电子学]
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