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高道密度垂直磁记录单极头读出过程的理论分析
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作者 张圣华 裴先登 《计算机学报》 EI CSCD 北大核心 1994年第10期786-790,共5页
本文对高道密度垂直磁记录单极头的读出过程进行了理论分析．考虑到垂直磁记录方式的记录位长远小于单极型磁头厚度，在不计及漏磁的情况下，用镜像法简化地推导了双层膜窄道宽垂直磁记录单极头读出波形电压表达式，由此可以看出影响垂... 本文对高道密度垂直磁记录单极头的读出过程进行了理论分析．考虑到垂直磁记录方式的记录位长远小于单极型磁头厚度，在不计及漏磁的情况下，用镜像法简化地推导了双层膜窄道宽垂直磁记录单极头读出波形电压表达式，由此可以看出影响垂直磁记录单极头磁记录系统实现高道密度的因素． 展开更多
关键词 垂直磁记录 单极头 读出过程
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