单点激光三角法测距及其标定

介绍了一种快速准确的非接触测距方法,阐明了单点激光三角法测距的原理及其测量系统的主要组成。针对测量用的光敏传感器-电荷耦合器件(ChargeCoupledDevice,CCD)之标定曲线的非线性特性,着重叙述了用逐段折线逼近该标定曲线的方法,并给出了具体的算法程序。

基于CMOS单点激光三角法测距系统设计

根据三角法测距原理,运用单片机技术对距离进行测量,设计了一套基于CMOS的单点激光三角法测距系统。详细地介绍了系统的硬件组成和软件结构,针对测量用的光敏传感器之标定曲线的非线性特征,提出了用逐段折线逼近该标定曲线的方法,最后给出实验结果,并分析了各个参数对实验精度的影响。实验结果表明方案切实可行,该方法的测量误差小于3%。

一种高精度单点激光三角测距方法

在非接触测量技术中,单点激光三角法测距以设备简单和具有较高的精度得到广泛应用;但用于成像系统的CCD镜头都有不同程度的畸变,为满足亚毫米精度的高精度测量,提出了实验标定法;首先对光学镜头的畸变参数进行标定,并用标定出来的畸变参数对畸变图像进行校正,然后对图像进行滤波和采用亚像素定位技术检测激光光斑中心,最后用逐段折线逼近法标定出空间目标点与目标像点的非线性关系,并详细分析了激光三角法的测距精度;实验表明,提出的测距方法能够达到亚毫米高精度,测量的均方根误差为24.9μm。