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集成化单电子器件研究进展
被引量:
1
1
作者
杨银堂
王帆
+1 位作者
朱樟明
翟艳
《电子器件》
CAS
2004年第4期772-776,共5页
传统 MOSFET结构正以较快的发展速度接近其物理极限 ,而单电子器件将成为新型的高性能集成化器件结构。本文采用量子点及其库伦阻塞效应等概念对单电子器件的工作原理进行了系统分析 ,并介绍了单电子器件在存储器和高灵敏度静电计方面...
传统 MOSFET结构正以较快的发展速度接近其物理极限 ,而单电子器件将成为新型的高性能集成化器件结构。本文采用量子点及其库伦阻塞效应等概念对单电子器件的工作原理进行了系统分析 ,并介绍了单电子器件在存储器和高灵敏度静电计方面的应用 。
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关键词
单
电子
器件
库伦阻塞
量子点
单
电子
存储器
单电子静电计
下载PDF
职称材料
题名
集成化单电子器件研究进展
被引量:
1
1
作者
杨银堂
王帆
朱樟明
翟艳
机构
西安电子科技大学微电子研究所
出处
《电子器件》
CAS
2004年第4期772-776,共5页
文摘
传统 MOSFET结构正以较快的发展速度接近其物理极限 ,而单电子器件将成为新型的高性能集成化器件结构。本文采用量子点及其库伦阻塞效应等概念对单电子器件的工作原理进行了系统分析 ,并介绍了单电子器件在存储器和高灵敏度静电计方面的应用 。
关键词
单
电子
器件
库伦阻塞
量子点
单
电子
存储器
单电子静电计
Keywords
single-electron device
coulomb blockade
quantum dot
single-electron memory
single-electron electrometer
分类号
TN452 [电子电信—微电子学与固体电子学]
下载PDF
职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
集成化单电子器件研究进展
杨银堂
王帆
朱樟明
翟艳
《电子器件》
CAS
2004
1
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