单窗光纤耦合器损耗分析与测试实验研究

本文利用耦合比与波长近似成线性关系特征，设计了单窗耦合器插入损耗和附加损耗测试的实验方案，采用的测试光路简单、器件简易便于在批量生产检测工序中推广应用。