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压接型IGBT器件单芯片子模组疲劳失效的仿真 被引量:19
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作者 张经纬 邓二平 +2 位作者 赵志斌 李金元 黄永章 《电工技术学报》 EI CSCD 北大核心 2018年第18期4277-4285,共9页
压接型绝缘栅双极型晶体管(IGBT)器件因其具有双面散热、失效短路和易于串联等优点特别适合应用于柔性直流输电等大功率领域。但这种压接封装结构的器件在经历长时间的循环热应力后,各组件中的金属材料会逐渐出现疲劳失效,对器件可靠性... 压接型绝缘栅双极型晶体管(IGBT)器件因其具有双面散热、失效短路和易于串联等优点特别适合应用于柔性直流输电等大功率领域。但这种压接封装结构的器件在经历长时间的循环热应力后,各组件中的金属材料会逐渐出现疲劳失效,对器件可靠性产生不利影响。建立压接型IGBT器件的单芯片子模组有限元仿真模型,利用功率循环仿真来模拟器件所经历的循环热应力工况,并对功率循环仿真结果进行热和力的分析。同时应用组合Coffin-Mason和Basquin模型对IGBT芯片进行疲劳寿命预测。结果表明芯片与发射极钼片相接触的边缘区域承受的压力最大也最易变形,且在高应力条件下芯片的疲劳寿命只有10 000多次循环。最后结合实际失效的芯片和仿真结果提出压接型IGBT器件一种"压力失效"模式,并对其相应的失效机理进行了一些初步解释。 展开更多
关键词 压接型IGBT 器件 单芯片子模 功率循环 疲劳寿命预测 芯片失效
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升技Abit UL8主板
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《电脑自做》 2005年第9期111-111,共1页
关键词 ABIT UL8 主板 单芯片组 处理器 插槽设计 超频性能
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High-performance single-chip exon capture allows accurate whole exome sequencing using the Illumina Genome Analyzer 被引量:3
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作者 JIANG Tao YANG Lei +2 位作者 JIANG Hui TIAN Geng ZHANG XiuQing 《Science China(Life Sciences)》 SCIE CAS 2011年第10期945-952,共8页
Here we present an adaptation of NimbleGen 2.1M-probe array sequence capture for whole exome sequencing using the Illumina Genome Analyzer (GA) platform.The protocol involves two-stage library construction.The specifi... Here we present an adaptation of NimbleGen 2.1M-probe array sequence capture for whole exome sequencing using the Illumina Genome Analyzer (GA) platform.The protocol involves two-stage library construction.The specificity of exome enrichment was approximately 80% with 95.6% even coverage of the 34 Mb target region at an average sequencing depth of 33-fold.Comparison of our results with whole genome shot-gun resequencing results showed that the exome SNP calls gave only 0.97% false positive and 6.27% false negative variants.Our protocol is also well suited for use with whole genome amplified DNA.The results presented here indicate that there is a promising future for large-scale population genomics and medical studies using a whole exome sequencing approach. 展开更多
关键词 whole exome sequencing exon capture SNP detection indel detection high-throughput resequencing
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