单链扫描可测性设计中存储元件的排序

本文提出了扫描设计中存储元件在扫描链中的最优排序方法。采用交迭测试体制和区间法能快速求出最优解。对于确定的测试向量集，用该方法构造的扫描链能使电路总的测试时间最少。