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金刚石表面Cr金属化的界面扩散反应研究
被引量:
2
1
作者
朱永法
王莉
+1 位作者
姚文清
曹立礼
《材料工程》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2000年第1期24-26,37,共4页
利用直流磁控溅射法在金刚石颗粒表面沉积了厚度为150nm的金属Cr薄膜。SEM研究表明在金刚石表面形成的Cr膜基本均匀,但有小的金属聚集体存在。俄歇深度剖析研究发现,在镀膜过程中Cr膜和金刚石基底间发生了显著的界面扩散作用。相应的俄...
利用直流磁控溅射法在金刚石颗粒表面沉积了厚度为150nm的金属Cr薄膜。SEM研究表明在金刚石表面形成的Cr膜基本均匀,但有小的金属聚集体存在。俄歇深度剖析研究发现,在镀膜过程中Cr膜和金刚石基底间发生了显著的界面扩散作用。相应的俄歇线形分析表明,沉积过程中在界面上发生化学反应形成了部分Cr2C3物种。溅射沉积功率对金刚石颗粒与金属Cr膜的界面扩散反应有较大的影响。提高溅射功率可大大促进Cr元素的扩散,但对于C元素的扩散作用则影响较小。界面扩散反应的本质是荷能Cr原子与金刚石基底的碰撞注入作用。
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关键词
磁控溅射
金刚石
CR
单面扩散反应
表面金属化
下载PDF
职称材料
题名
金刚石表面Cr金属化的界面扩散反应研究
被引量:
2
1
作者
朱永法
王莉
姚文清
曹立礼
机构
清华大学化学系
出处
《材料工程》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2000年第1期24-26,37,共4页
基金
国家教委留学回国启动基金
文摘
利用直流磁控溅射法在金刚石颗粒表面沉积了厚度为150nm的金属Cr薄膜。SEM研究表明在金刚石表面形成的Cr膜基本均匀,但有小的金属聚集体存在。俄歇深度剖析研究发现,在镀膜过程中Cr膜和金刚石基底间发生了显著的界面扩散作用。相应的俄歇线形分析表明,沉积过程中在界面上发生化学反应形成了部分Cr2C3物种。溅射沉积功率对金刚石颗粒与金属Cr膜的界面扩散反应有较大的影响。提高溅射功率可大大促进Cr元素的扩散,但对于C元素的扩散作用则影响较小。界面扩散反应的本质是荷能Cr原子与金刚石基底的碰撞注入作用。
关键词
磁控溅射
金刚石
CR
单面扩散反应
表面金属化
Keywords
sputtering
diamond
Cr
interface diffusion and reaction
AES
分类号
TG731 [金属学及工艺—刀具与模具]
下载PDF
职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
金刚石表面Cr金属化的界面扩散反应研究
朱永法
王莉
姚文清
曹立礼
《材料工程》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2000
2
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职称材料
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