电迁移现象对PCBA焊点质量的影响研究

通过有限元仿真软件AnsysWorkbench分析印制电路板组件(PCBA)表面球栅阵列封装(BGA)器件焊点在电迁移条件下温度场、电场、应力场的分布情况并提取相关参数,确定在电迁移条件下危险焊点的位置。利用理论公共法,计算危险焊点的电迁移散度、迁移力等关键参数。采用生死单元法模拟空洞的动态形成过程,对BGA器件危险焊点的电迁移寿命进行计算,对照仿真结果开展寿命试验,验证了仿真寿命的有效性。