期刊文献+
共找到2篇文章
< 1 >
每页显示 20 50 100
压力溶样-光度法测定高纯锗中硅 被引量:1
1
作者 潘鸿器 李凤娥 《分析试验室》 CAS CSCD 北大核心 1993年第2期76-77,共2页
金属锗中硅的测定多采用仪器分析法,如质谱法和中子活化分析。一般厂矿不具备这类条件,需要建立用化学手段测定高纯锗中微量硅的方法。对于微量硅的分析,最为棘手的问题是如何降低试验空白。采用常规方法分解锗,酸的消耗量大。
关键词 压力溶样 比色法
下载PDF
压力溶样—光度法测定高纯锗中硅
2
作者 潘鸿器 李凤娥 《有色金属分析通讯》 1991年第2期14-17,共4页
关键词 高纯锗 压力溶样 比色法 测定
下载PDF
上一页 1 下一页 到第
使用帮助 返回顶部