聚甲基丙烯酸甲酯材料的压激电流谱测试

聚合物绝缘材料广泛应用于电气工程领域,其在电场当中的极化以及载流子输运行为是影响绝缘性能的重要因素。测量聚合物材料的极化行为和载流子陷阱参数对研究绝缘材料电学性能具有十分重要的意义。文中设计了一套以压力作为变量,在高压力条件下测量聚合物压激电流谱(piezo-stimulated current,PSC)的测试系统,以聚甲基丙烯酸甲酯(PMMA)材料为被测对象进行了压激电流谱试验,得到了具有很好可重复性的结果。在构建的物理模型下,结合参数拟合的方法,计算得到了PMMA在高压力下极化过程的分子活化体积为0.89×10^(-28)~1.36×10^(-28)m^(3),分子活化能为0.17 eV左右,验证了压激电流测试方法的有效性。

高压力下聚酰亚胺薄膜热激电流的研究

由于压力参数的引入可以在热激电流（TSC）测量中获得更多实用信息,故自行设计了高压力下测量TSC装置,并且用该装置测量了聚酰亚胺（PI）薄膜在不同压力下的TSC谱和恒温下降低压力时的压激电流（PSC）谱.结果表明:在相同条件下极化的样品,随着压力的增加,其热激电流峰移向高温,压力因素显著地影响聚酰亚胺薄膜的松弛参数.

关于工程电介质中几个经常涉及的问题与思考

随着工程电介质领域研究的发展,诸多没有得到公认解释的问题逐渐出现,为此,本文提出了几个重要的问题及思考以供相关研究工作者参考。1994年Lewis首次提出了纳米电介质,2003年至今已成为工程电介质领域的研究热点,但从20余年该领域的研究内容、作者的原意以及新近又提出的纳米结构电介质来看,我们认为应把名称改为纳米电介质复合物,并按照低维物理对纳米电介质作了重新定义。分析了Lewis与Tanaka界面的具体含义,提出了纳米高聚物复合物硬/软界面及其具有结构复杂性、不确定性与易变性的新概念,并剖析了硬、软表面的尺度及理化特性。提出了从A Einstein还原论、P W Anderson的层展现象与R P Feynmann的思维方法以启迪相关研究的新思维。从空间电荷限制电流(SCLC)存在条件的约束和高聚物或其复合物中由于自身结构的多层次性、复杂界面、电极接触以及共存的电子与离子电导等因素的严重影响,提出了从欧姆区过渡到高场区(即电极注入的SCLC区)不完全是由一种与注入载流子相同的载流子决定的想法,特别是要严格审视在测量条件确定时,离子电导对低场与高场区电流的贡献。为此,列出了离子电导与电子电导的主要特征与区别方法。针对脉冲有关的测量空间电荷的方法,特别是已成为国际上测量空间电荷主流方法的脉冲电声(PEA)方法,提出了PEA的优点与不足之处,以及如何去校准测量结果的正确性、重复性,如依据高聚物结构的特征,建立压激电流(pressure stimulated current,PSC)装置,正确判断电子、离子、偶极子梯度产生的空间电荷,以弥补PEA测量的严重不足。