宇航用100V厚膜DC/DC电源变换器极限评估试验研究

针对宇航用元器件可靠性验证要求,提出宇航用100 V厚膜DC/DC电源变换器的极限评估方法。以新研典型产品为例,依据型号应用的关键参数、相关极限判据和器件详细规范初稿,制定极限评估试验项目及其方法、条件,进行针对性的电应力、温度应力、机械应力等极限试验,并依据试验结果分析器件的各类极限、可靠性裕量等信息,为宇航用100 V厚膜DC/DC电源变换器的研制和应用提供参考。

厚膜DC/DC电源VDMOS器件失效机理及研究现状

整机小型化的发展对厚膜微组装DC/DC电源提出了更高的可靠性要求,VDMOS器件作为DC/DC电源的开关器件,其性能退化失效将直接影响电源效率、温升指标和技术性能。介绍了厚膜微组装DC/DC电源VDMOS器件芯片级、封装级两个层面的失效机理,以及针对这些失效机理的寿命评估方法和研究现状,并根据VDMOS器件在DC/DC电源中的应用,提出两种温度应力下的寿命评估方法。

探析厚膜微组装DC/DC电源VDMOS器件的失效原理

目前,DC/DC电源模块逐渐向着高效率、高功率以及高电流低电压的趋势发展,因此,人们对厚膜微组装DC/DC电源的可靠性要求更高。而作为用于DC/DC电源厚膜微组装的器件—VDMOS器件,其性能的失效对DC/DC电源的效率及温升和技术指标产生严重的影响。所以,研究分析VDMOS器件的失效原理就显得很是必要。