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TiVCrFe固溶体合金放氢过程中结构的变化
被引量:
3
1
作者
黄倬
F.CUEVAS
+4 位作者
刘晓鹏
蒋利军
王树茂
M.LATROCHE
杜军
《中国有色金属学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2010年第8期1591-1598,共8页
采用XRD、中子衍射、原位变温X射线衍射和热重分析对Ti29.25Cr26.59V37.25Fe6.91Ce1.10合金的放氢特性进行研究。结果表明:合金氘化物(平衡压为2MPa)中主相金属原子占据4a位置,大部分氘占据8c位置,合金氘化物具有FCC结构。合金氢化物在...
采用XRD、中子衍射、原位变温X射线衍射和热重分析对Ti29.25Cr26.59V37.25Fe6.91Ce1.10合金的放氢特性进行研究。结果表明:合金氘化物(平衡压为2MPa)中主相金属原子占据4a位置,大部分氘占据8c位置,合金氘化物具有FCC结构。合金氢化物在放氢过程中发生两次相变,其中,在较低温度下发生的相变对应于含氢量高的β氢化物向含氢量低的α氢化物的转变,而在较高温度下的相变则对应于α氢化物向无氢BCC合金相的转变。β氢化物具有变形的FCC结构(P4/mmm),α氢化物具有BCT结构(I4/mmm)。
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关键词
Ti-V固溶体合金
放氢过程
结构变化
原位变温xrd
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职称材料
Al掺杂量对Cu(In_(1-x)Al_x)S_2薄膜性能的影响
2
作者
邓卫之
言智
+2 位作者
邓沛然
王莹
方亚林
《太阳能学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2016年第7期1732-1736,共5页
使用廉价的溶剂热法制备黄铜矿结构的Cu(In1-xAlx)S2薄膜,研究Al掺杂量对Cu(In1-xAlx)S2薄膜的晶体结构、形貌、粗糙度和光学性能的影响。结果表明:随着Al掺杂量的增加,Cu(In1-xAlx)S2薄膜的X射线衍射峰向高角度偏移,同时晶...
使用廉价的溶剂热法制备黄铜矿结构的Cu(In1-xAlx)S2薄膜,研究Al掺杂量对Cu(In1-xAlx)S2薄膜的晶体结构、形貌、粗糙度和光学性能的影响。结果表明:随着Al掺杂量的增加,Cu(In1-xAlx)S2薄膜的X射线衍射峰向高角度偏移,同时晶粒尺寸变小。CuInS2的原位变温XRD结果显示CuInS2在低于873K时可以稳定存在,当温度达到873K时CuInS2则开始分解为In2S3和Cu2S。AFM的测试结果展示薄膜表面的粗糙度随着Al掺杂量的增加而逐步降低。紫外分光光度计的测试结果呈现Cu(In1-xAlx)S2薄膜透过率随着Al含量的增加而逐步增加。Al/(Al+In)的量在0-0.5变化时,Cu(In1-xAlx)S2薄膜的禁带宽度的相应变化为1.56~2.24eV。
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关键词
Cu(In1-xAlx)S2薄膜
黄铜矿结构
Al掺杂量
原位变温xrd
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职称材料
题名
TiVCrFe固溶体合金放氢过程中结构的变化
被引量:
3
1
作者
黄倬
F.CUEVAS
刘晓鹏
蒋利军
王树茂
M.LATROCHE
杜军
机构
北京有色金属研究总院能源材料与技术研究所
Chimie Métallurgique des Terres Rares-ICMPE-UMR
出处
《中国有色金属学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2010年第8期1591-1598,共8页
基金
国家国际科技合作资助项目(2007DFA60620)
中法政府合作资助项目(PRA2007–15596RF)
文摘
采用XRD、中子衍射、原位变温X射线衍射和热重分析对Ti29.25Cr26.59V37.25Fe6.91Ce1.10合金的放氢特性进行研究。结果表明:合金氘化物(平衡压为2MPa)中主相金属原子占据4a位置,大部分氘占据8c位置,合金氘化物具有FCC结构。合金氢化物在放氢过程中发生两次相变,其中,在较低温度下发生的相变对应于含氢量高的β氢化物向含氢量低的α氢化物的转变,而在较高温度下的相变则对应于α氢化物向无氢BCC合金相的转变。β氢化物具有变形的FCC结构(P4/mmm),α氢化物具有BCT结构(I4/mmm)。
关键词
Ti-V固溶体合金
放氢过程
结构变化
原位变温xrd
Keywords
Ti-V based solid solution alloy
desorption process
structure change
in-situ temperature
xrd
分类号
TG139.7 [一般工业技术—材料科学与工程]
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职称材料
题名
Al掺杂量对Cu(In_(1-x)Al_x)S_2薄膜性能的影响
2
作者
邓卫之
言智
邓沛然
王莹
方亚林
机构
上海工程技术大学材料工程学院
出处
《太阳能学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2016年第7期1732-1736,共5页
基金
上海工程技术大学研究生创新课题(13KY0505)
文摘
使用廉价的溶剂热法制备黄铜矿结构的Cu(In1-xAlx)S2薄膜,研究Al掺杂量对Cu(In1-xAlx)S2薄膜的晶体结构、形貌、粗糙度和光学性能的影响。结果表明:随着Al掺杂量的增加,Cu(In1-xAlx)S2薄膜的X射线衍射峰向高角度偏移,同时晶粒尺寸变小。CuInS2的原位变温XRD结果显示CuInS2在低于873K时可以稳定存在,当温度达到873K时CuInS2则开始分解为In2S3和Cu2S。AFM的测试结果展示薄膜表面的粗糙度随着Al掺杂量的增加而逐步降低。紫外分光光度计的测试结果呈现Cu(In1-xAlx)S2薄膜透过率随着Al含量的增加而逐步增加。Al/(Al+In)的量在0-0.5变化时,Cu(In1-xAlx)S2薄膜的禁带宽度的相应变化为1.56~2.24eV。
关键词
Cu(In1-xAlx)S2薄膜
黄铜矿结构
Al掺杂量
原位变温xrd
Keywords
Cu(In1-xAlx)S2 thin films
chalcopyrite compound
A1 doped concentrations
in-situ
xrd
分类号
TM615 [电气工程—电力系统及自动化]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
TiVCrFe固溶体合金放氢过程中结构的变化
黄倬
F.CUEVAS
刘晓鹏
蒋利军
王树茂
M.LATROCHE
杜军
《中国有色金属学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2010
3
下载PDF
职称材料
2
Al掺杂量对Cu(In_(1-x)Al_x)S_2薄膜性能的影响
邓卫之
言智
邓沛然
王莹
方亚林
《太阳能学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2016
0
下载PDF
职称材料
已选择
0
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