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卤化物钙钛矿半导体透射电镜表征的挑战与机遇
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作者 陈树林 高鹏 《电子显微学报》 CAS CSCD 北大核心 2024年第5期580-594,共15页
卤化物钙钛矿价格低廉,易于合成,具有优异的光电性能,广泛应用于太阳能电池、光电探测器和发光二极管等光电子器件,是当前国际上研究的热点领域,同时入选工信部和国资委评出的首批前沿材料之一。透射电子显微镜表征是揭示卤化物钙钛矿... 卤化物钙钛矿价格低廉,易于合成,具有优异的光电性能,广泛应用于太阳能电池、光电探测器和发光二极管等光电子器件,是当前国际上研究的热点领域,同时入选工信部和国资委评出的首批前沿材料之一。透射电子显微镜表征是揭示卤化物钙钛矿形貌、结构、成分等物理和化学信息的关键。然而,卤化物钙钛矿在电子束辐照下易分解,这种极端敏感性通常会阻碍我们获取钙钛矿本征信息,甚至引起假象。基于此,本文综述了近年来有关卤化物钙钛矿的透射电子显微学研究,重点讨论了卤化物钙钛矿电子束损伤机理、影响钙钛矿电子束敏感性因素、如何降低电子束损伤并获得钙钛矿原子尺度信息。本文旨在引起人们对卤化物钙钛矿电子束敏感性的关注,指导卤化物钙钛矿电子显微学表征,揭示卤化物钙钛矿分解机理,为构建高效稳定的钙钛矿光电器件提供实验指导。 展开更多
关键词 卤化物钙钛矿 电子束损伤 低剂量成像 原子尺度成像 透射电子显微学
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Imaging the atomic-scale electronic states induced by a pair of hole dopants in Ca_(2)CuO_(2)Cl_(2) Mott insulator
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作者 Haiwei Li Shusen Ye +2 位作者 Jianfa Zhao Changqing Jin Yayu Wang 《Science Bulletin》 SCIE EI CSCD 2021年第14期1395-1400,M0003,共7页
We use scanning tunneling microscopy to visualize the atomic-scale electronic states induced by a pair of hole dopants in Ca_(2)CuO_(2)Cl_(2)parent Mott insulator of cuprates.We find that when the two dopants approach... We use scanning tunneling microscopy to visualize the atomic-scale electronic states induced by a pair of hole dopants in Ca_(2)CuO_(2)Cl_(2)parent Mott insulator of cuprates.We find that when the two dopants approach each other,the transfer of spectral weight from high energy Hubbard band to low energy ingap state creates a broad peak and nearly V-shaped gap around the Fermi level.The peak position shows a sudden drop at distance around 4 a_(0)and then remains almost constant.The in-gap states exhibit peculiar spatial distributions depending on the configuration of the two dopants relative to the underlying Cu lattice.These results shed important new lights on the evolution of low energy electronic states when a few holes are doped into parent cuprates. 展开更多
关键词 CUPRATES Mott insulator Charge transfer gap Impurity state Scanning tunneling microscopy
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